|
|||||
|
|
| HT－7装置首次超导调试过程中的残气质谱分析 | |
| 引用本文： | 王小明,谢一强,辜学茂.HT－7装置首次超导调试过程中的残气质谱分析[J].真空,1996(5). |
| 作者姓名： | 王小明 谢一强 辜学茂 |
| 作者单位： | 中国科学院等离子体物理所 |
| 摘 要： | 本文给出ＭＸ７３０４Ａ单极质谱计在ＨＴ－７装置首次低温超导调试过程中的应用。介绍进行残气质谱分析的目的，方法和采用的差分抽气质谱分析系统；给出装置调试过程中常温和低温状态下残气谱图；根据残气成分的分析和真空测量综合评价装置的真空状况。并利用质谱分析系统作为检漏手段 |
| 关 键 词： | 残气质谱分析 差分抽气系统 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |