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氮化铝压电薄膜的晶面择优取向
引用本文:武海顺,许小红,金志浩.氮化铝压电薄膜的晶面择优取向[J].真空科学与技术学报,2000,20(6):442-446.
作者姓名:武海顺  许小红  金志浩
作者单位:山西师范大学化学系!临汾041004(武海顺,张富强),西安交通大学!博士研究生(许小红),西安交通大学材料学院!西安710049(金志浩)
基金项目:国家自然科学基金! (批准号 :2 97410 0 4),山西省自然科学基金! (批准号 :9910 5 6 ),教育部骨干教师资助计划联合资助
摘    要:采用直流磁控反应溅射方法 ,在Si(111)基片上成功地沉积了表面粗糙度小、组成均匀、以 (10 0 )面和 (0 0 2 )面择优取向的AlN薄膜 ,研究了溅射气压、溅射功率和靶基距对AlN薄膜结构及晶面取向的影响。结果表明 ,溅射气压低 ,靶基距短 ,有利于以 (0 0 2 )面择优取向 ;相反 ,溅射气压高 ,靶基距长 ,则对 (10 0 )面择优取向有利 ;溅射功率过高或过低均不利于晶面择优取向。并从Al—N化学键的形成以及溅射粒子平均自由程的角度探讨了AlN压电薄膜晶面择优取向。

关 键 词:氮化铝薄膜  择优取向  化学键  平均自由程
修稿时间:2000-05-08

Studies of Preferential Orientation of AlN Piezoelectric Thin Films
Wu Haishun,Xu Xiaohong,Zhang Fuqiang.Studies of Preferential Orientation of AlN Piezoelectric Thin Films[J].JOurnal of Vacuum Science and Technology,2000,20(6):442-446.
Authors:Wu Haishun  Xu Xiaohong  Zhang Fuqiang
Abstract:
Keywords:AlN thin films  Preferential orientation  Chemical bond  Mean free path
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
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