| 电子束辐照对氧化锌纳米线Ⅰ-Ⅴ特性的影响 |
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| 引用本文： | 卫斌,吉元,王丽,张隐奇,张小玲,吕长志,张跃飞.电子束辐照对氧化锌纳米线Ⅰ-Ⅴ特性的影响[J].真空科学与技术学报,2008,28(4). |
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| 作者姓名： | 卫斌 吉元 王丽 张隐奇 张小玲 吕长志 张跃飞 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金项目
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北京市教委基金项目 |
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| 摘 要： | 在扫描电镜中,采用纳米微操纵仪构成一个2探针电流-电压(I-V)测试装置.测试了单根ZnO纳米线接触钨电极构成的金属-半导体-金属(M-S-M)结的I-V特征曲线.ZnO纳米线的I-V曲线呈现出较弱的肖特基特性.研究了电子束辐照对ZnO纳米线的I-V曲线的影响.30 keV电子束辐照使ZnO纳米线的总电阻减小.计算得到ZnO纳米线的电导率σ=0.24 S/cm,载流子浓度n=1.64×1016 cm-3.为了对比,还测试了单根碳纤维接触钨电极的I-V特征曲线.在30 keV电子束辐照下,碳纤维的总电阻保持不变,电导率σ＝22 S/cm.
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| 关 键 词： | 电子束辐照 扫描电镜 ZnO纳米线 I-V曲线 |
Influence of the Electron Irradiation on I-V Characteristics of ZnO Nanowires |
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