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透明导电薄膜ZnO:Mn的低温制备及性能研究
引用本文:张化福,杨书刚,王永在,郭红,刘汉法.透明导电薄膜ZnO:Mn的低温制备及性能研究[J].真空科学与技术学报,2011,31(6).
作者姓名:张化福  杨书刚  王永在  郭红  刘汉法
作者单位:1. 山东理工大学理学院 淄博255049
2. 山东理工大学教务处 淄博255049
3. 山东理工大学材料分析测试中心 淄博255049
基金项目:山东省自然科学基金资助项目
摘    要:利用直流磁控溅射法在室温玻璃衬底上制备出了可见光透过率高、电阻率低的掺锰氧化锌(ZnO:Mn)透明导电薄膜.实验制备的ZnO:Mn为六方纤锌矿结构的多晶薄膜,且具有垂直于衬底方向的c轴择优取向.实验结果表明,靶与衬底之间的距离对ZnO:Mn薄膜的生长速率、残余应力及电学性能有很大影响,而对薄膜的晶粒尺寸和光学性能影响不大.考虑薄膜的电学、光学及力学性能,认为靶与衬底之间的最佳距离为7.0 cm.在此条件下制备的ZnO:Mn薄膜的电阻率达到4.2×10-4 Ω·cm,可见光透过率为86.6%,丽残余应力仅为-0.025 GPa.

关 键 词:ZnO:  Mn  透明导电薄膜  靶与衬底之间的距离  应力

Low Temperature Growth and Properties of Transparent Conducting ZnO: Mn Films
Zhang Huafu,Yang Shugang,Wang Yongzai,Guo Hong,Liu Hanfa.Low Temperature Growth and Properties of Transparent Conducting ZnO: Mn Films[J].JOurnal of Vacuum Science and Technology,2011,31(6).
Authors:Zhang Huafu  Yang Shugang  Wang Yongzai  Guo Hong  Liu Hanfa
Abstract:
Keywords:
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