| Ti基IrO2+Ta2O5涂层中氧化物附着量的XRF分析 |
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| 引用本文： | 胡吉明,吴继勋,孟惠民,张抒洁,杨德钧.Ti基IrO2+Ta2O5涂层中氧化物附着量的XRF分析[J].材料保护,2000,33(4):43-44. |
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| 作者姓名： | 胡吉明 吴继勋 孟惠民 张抒洁 杨德钧 |
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| 作者单位： | 北京科技大学北京腐蚀与防护中心,100083 |
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| 摘 要： | 对传统热解法制得的Ｔｉ基ＩｒＯ２＋Ｔａ２Ｏ５涂层进行了Ｘ射线普（ＥＤＸ）及Ｘ射线衍射（ＸＲＤ）测试分析。结果表明，涂层中Ｃ１元素的含量随温度上升而降低，至５００℃后已降为较低数值（２％），此温度下Ｉｒ组元几乎以ＩｒＯ２晶体相存在。Ｔｉ基金属的热重分析（ＴＧＡ）表明，５００℃下经４ｈ预氧化后，该基体金属已不再化增重。结合涂层ＥＤＷ、ＸＲＤ及Ｔｉ基ＴＧＡ测试结果，确定了Ｘ射线荧光分析（ＸＲＦ）用标准试
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| 关 键 词： | 阳极 涂层 钛阳板 氧化物附着量 XRF |
X-Ray Analysis of IrO2 and Ta2O5 Llading in Titanium Based Ir/Ta Mixed Oxides Coatings |
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