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微流控芯片检测技术进展
引用本文:朱睿,肖松山,范世福.微流控芯片检测技术进展[J].纳米技术与精密工程,2005,3(1):74-79.
作者姓名:朱睿  肖松山  范世福
作者单位:天津大学精密仪器与光电子工程学院,天津,300072
摘    要:对近年来用于微流控芯片的光学检测(包括荧光、吸收光度和电化学发光检测等)、电化学检测(电导检测、电位检测及安培检测)的发展和其他一些检测方法的研究成果进行了综述,随着微加工技术的不断发展,高速多通道检测以及集成多种方法的高通用性微流控检测芯片都将成为未来的研究热点。

关 键 词:微流控芯片  电化学发光  安培  荧光  电导检测  电化学检测  电位  高通  光学检测  微加工技术
文章编号:1672-6030(2005)01-0074-06
修稿时间:2004年11月15

Developments in Detection Techniques for Microfluidic Devices
ZHU Rui,XIAO Song-shan,FAN Shi-fu.Developments in Detection Techniques for Microfluidic Devices[J].Nanotechnology and Precision Engineering,2005,3(1):74-79.
Authors:ZHU Rui  XIAO Song-shan  FAN Shi-fu
Abstract:In this review, we sum up recent progress of optical detection(including fluorescence detection, absorbance detection, electrochemiluminescence detection etc), electrochemical detection(including conductimetry detection, potentiometry detection, amperometry detection)and some other detection methods for microflui- dic chips. With the rapid progress in the MEMS technology, high speed, multi-channel detection and a universal microchip integrated with many kinds of detection methods will be research focus in the future.
Keywords:microfluidic chip  fluorescence  optical  electrochemical detection  
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