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用于测振的电子散斑剪切干涉术
引用本文:景超,井文才,徐天华,刘娜,周革,张以谟.用于测振的电子散斑剪切干涉术[J].纳米技术与精密工程,2006,4(1):58-62.
作者姓名:景超  井文才  徐天华  刘娜  周革  张以谟
作者单位:天津大学精密仪器与光电子工程学院光电信息技术科学教育部重点实验室,天津,300072
基金项目:中国科学院资助项目;科技部科研项目;教育部优秀青年教师资助计划
摘    要:电子散斑剪切干涉术作为一种高精度全场测量技术,已被广泛应用于无损检测(NDT)、应变分析、振动检测和流场分析等领域.主要分析了电子散斑剪切干涉术在振动检测领域的应用,分析了它利用时间平均法检测振动的原理,并为实现物面振动的大面积检测进行了电子散斑剪切干涉仪光学结构的参数设计,一次可以检测大小为669 mm×502mm的矩形物面.利用计算机模拟产生随机高斯相关表面的高度分布函数及振动散斑剪切条纹图.结果表明电子散斑剪切干涉术用于振动检测.

关 键 词:电子散斑剪切相移干涉  振动检测  时间平均法  散斑条纹模拟
文章编号:1672-6030(2006)01-0058-05
收稿时间:2005-05-11
修稿时间:2005年5月11日

Electronic Speckle-Shearing Patten Interferometry for Vibration Analysis
JING Chao,JING Wen-cai,XU Tian-hua,LIU Na,ZHOU Ge,ZHANG Yi-mo.Electronic Speckle-Shearing Patten Interferometry for Vibration Analysis[J].Nanotechnology and Precision Engineering,2006,4(1):58-62.
Authors:JING Chao  JING Wen-cai  XU Tian-hua  LIU Na  ZHOU Ge  ZHANG Yi-mo
Abstract:
Keywords:electronic speckle-shearing patten interferometry (ESSPI)  vibration analysis  time-average method  stroboscopic method  simulation of stripes of speckle
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