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| 一种测量镀层厚度的新方法 | |
| 引用本文： | 俞阿龙.一种测量镀层厚度的新方法[J].计量技术,2000(2):7-10. |
| 作者姓名： | 俞阿龙 |
| 作者单位： | 江苏省淮阴师范学院,淮阴,223001 |
| 摘 要： | 介绍以ＭＣＳ－５１单片机为核心，利用霍尔集成电路，集成函数运算放大器、Ｖ／Ｆ转换器等组成的新型镀层厚度测量仪。适合于对导磁工件上镀（涂）有非导磁材料的镀（涂）层厚度的测量。 |
| 关 键 词： | 镀层 厚度测量 霍尔集成电路 |
A New Method for Measuring Coat Thickness |
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| Yu Along.A New Method for Measuring Coat Thickness[J].Measurement Technique,2000(2):7-10. | |
| Authors: | Yu Along |
| Abstract: | |
| Keywords: | |
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