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| 薄膜定域干涉条纹清晰度探讨 | |
| 引用本文： | 唐大伟,杨质苍,邬学康,高志民.薄膜定域干涉条纹清晰度探讨[J].计量技术,1983(3). |
| 作者姓名： | 唐大伟 杨质苍 邬学康 高志民 |
| 作者单位： | 上海工业大学，上海工业大学，上海工业大学，上海工业大学 |
| 摘 要： | 一、引言图1是薄膜干涉光路示意图。从光源S来的两束光a、b经过薄膜后,其反射光a_1、b_1以一定的相位差在P点产生干涉,干涉光强为 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |
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