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| 干涉显微镜白光干涉时零级条纹的调整 | |
| 引用本文： | 汪志强.干涉显微镜白光干涉时零级条纹的调整[J].计量技术,1987(1). |
| 作者姓名： | 汪志强 |
| 作者单位： | 航空工业部成都发动机公司 |
| 摘 要： | 《计量技术》1985年第2期发表的“6J型干涉显微镜干涉条纹的寻找及对比度的调整”一文(以下简称“寻找与调整”),介绍了单色光干涉条纹的寻找及调整方法。本文就白光干涉条纹的寻找和调整,再做如下介绍。一、干涉现场中产生二条黑色干涉条纹(即零级条纹) 的条件。如图所示,对单色光干涉,我们认为只要a_2=a_3、b_1=b_2,即总光程差为零,就能产生干涉条纹。而对于白光干涉,不但要满足总程差等于零,而且还必须满足: |
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