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| 超声料位测量中回波分析与处理 | |
| 引用本文： | 阎玉舜,高克成.超声料位测量中回波分析与处理[J].声学技术,1996,15(1):20-21. |
| 作者姓名： | 阎玉舜 高克成 |
| 作者单位： | [1]同济大学声学研究所 [2]上海工业自动化仪表研究所 |
| 摘 要： | 国内超声物位仪表近年已应用微处理器，使超声仪表由数字化走向微机化。一般采用以下几种方法来提高测量精度和增强抗干扰性能：①测量Ｎ次同步迭加，信噪比提高Ｎ倍；②ｎ次测量平均，测量精度提高ｎ，③选通门△Ｔ接收，在采样测量时间Ｔ内，抗干扰性能提高Ｔ／△Ｔ倍，然而，这些措施仅能抑制随机干扰，对固定（稳态）杂波不能剔除，另外也未充分发挥微处理器的功能，料仓中的固定干扰杂波有来自探头附近的直接回波，也有来自探头－料位－料仓侧壁－探头的二次回波，由于料面的倾斜，在一定的反射条件下，二次回波的幅值更大。另外，当物… |
| 关 键 词： | 料位测量 超声物位仪 回波 |
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