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非晶硅平板探测器DR成像校正方法
引用本文:闵吉磊,危荃,敖波,曾亚斌.非晶硅平板探测器DR成像校正方法[J].失效分析与预防,2015(3):133-138.
作者姓名:闵吉磊  危荃  敖波  曾亚斌
作者单位:1. 无损检测技术教育部重点实验室 南昌航空大学,南昌,330063
2. 上海航天精密机械研究所,上海,201600
基金项目:航空科学基金(2014ZF56022);江西省青年科学基金(20122BAB216016)
摘    要:平板探测器的校正是获取高质量DR图像的前提,本研究针对PE0822非晶硅平板探测器开展了射线DR成像实验研究。当平板探测器预热30 min以上时,暗场图像比较稳定。根据坏像素的分类标准,实验测试识别了3 121个坏点,并制定了新的坏点位置图,最后从软件上实现了平板探测器输出图像的暗场校正、增益校正和坏像素校正。选用高压I级涡轮叶片进行DR成像实验,实验结果表明:经过暗场校正、增益校正和坏像素校正后,提高了DR图像质量,DR图像灰度介于32 000~60 000之间,且像质计灵敏度达到了胶片照相的工艺要求,可用于涡轮叶片叶身检测。

关 键 词:平板探测器  增益校正  坏像素  暗场图像

Image Correction of a-Si Flat Panel Detector for Digital Radiography
MIN Ji-lei , WEI Quan , AO Bo , ZENG Ya-bin.Image Correction of a-Si Flat Panel Detector for Digital Radiography[J].Failure Analysis and Prevention,2015(3):133-138.
Authors:MIN Ji-lei  WEI Quan  AO Bo  ZENG Ya-bin
Affiliation:MIN Ji-lei;WEI Quan;AO Bo;ZENG Ya-bin;Key Laboratory of Nondestructive Testing (Ministry of Education) ,Nanchang Hangkong University;Shanghai Institute of Aerospace Precision Machinery;
Abstract:
Keywords:flat panel detector  gain correction  bad pixel correction  dark image
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
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