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高导低温银浆的研究及可靠性评价
引用本文:
傅俊川,谭富彬,曾德钧,谭力文.高导低温银浆的研究及可靠性评价[J].贵金属,1981(3).
作者姓名:
傅俊川
谭富彬
曾德钧
谭力文
摘 要:
本文研究了银粉的形态结构和含量对高导低温银浆性能的影响;指出了用片状结构的银粉制备高导低温银浆,可获得体电阻率10~(-4)~10~(-5)欧姆厘米,抗剪强度15公斤/厘米~2,可焊性良好的银白色导电涂层。最后,对本银浆在固体钽电容器上的使用进行了可靠性评价。
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