基于透射衰减和菲涅尔衍射的厚度测量法 |
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引用本文: | 陶亮,李振华,左凯,张祯滨,孙同景.基于透射衰减和菲涅尔衍射的厚度测量法[J].无损探伤,2010,34(6):20-23. |
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作者姓名: | 陶亮 李振华 左凯 张祯滨 孙同景 |
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作者单位: | 山东大学控制科学与工程学院,山东济南250061 |
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基金项目: | 国防基础科研计划,国家自然科学基金 |
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摘 要: | 提出了一种基于X射线透射衰减和菲涅尔衍射光学机理的工件厚度测量法。首先利用菲涅尔衍射模型对透射数字成像的边缘区域进行衍射校正,然后在相应能量的X射线透射作用下,根据其边缘处的厚度值,反推该材料的衰减系数,最后利用厚度测量公式计算出工件的厚度值。该方法不依赖于难以测量的材料衰减系数集、材料的原子序数及X射线的绝对光强值,不仅能够批量测量透射目标各点的厚度值,还可以测量其内部缺陷的大小。
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关 键 词: | 厚度测量 透射衰减 菲涅尔衍射 内部缺陷 |
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