Cu和Pd在TiN表面的置换析出行为及其热力学分析 |
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引用本文: | 吴全兴.Cu和Pd在TiN表面的置换析出行为及其热力学分析[J].稀有金属快报,2006,25(11):44-45. |
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作者姓名: | 吴全兴 |
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摘 要: | 由于开发了防止Cu和Si系材料相互扩散的阻隔材料,用铜做配线的大规模集成电路逐渐得到广泛的应用。电镀法形成微细铜配线的工艺是在基板上形成扩散阻隔层后,再用CVD或PVD法镀以铜层(称为种层),以此为阴极,其上电析铜配线。
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关 键 词: | 热力学分析 析出行为 Cu TiN 大规模集成电路 置换 表面 Pd |
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