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Cu和Pd在TiN表面的置换析出行为及其热力学分析
引用本文:吴全兴.Cu和Pd在TiN表面的置换析出行为及其热力学分析[J].稀有金属快报,2006,25(11):44-45.
作者姓名:吴全兴
摘    要:由于开发了防止Cu和Si系材料相互扩散的阻隔材料,用铜做配线的大规模集成电路逐渐得到广泛的应用。电镀法形成微细铜配线的工艺是在基板上形成扩散阻隔层后,再用CVD或PVD法镀以铜层(称为种层),以此为阴极,其上电析铜配线。

关 键 词:热力学分析  析出行为  Cu  TiN  大规模集成电路  置换  表面  Pd
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