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| 晶粒尺度和片层厚度对全片层γ—TiAl合金性能的影响 | |
| 引用本文： | 曹国鑫,林建国.晶粒尺度和片层厚度对全片层γ—TiAl合金性能的影响[J].稀有金属材料与工程,2000,29(3):172-176. |
| 作者姓名： | 曹国鑫 林建国 |
| 作者单位： | 北京航天航空大学,北京,100083 |
| 摘 要： | 研究了全片层Ｔｉ－４６．５Ａｌ－２Ｃｒ－１．５Ｎｂ－１Ｖ合金的显微组织与宏观力学性能之间的关系，研究表明，通过不同的热处理制度可以得到具有相同片层厚度的４种晶粒尺度，以及晶粒尺度大约为４５０ｕｍ，片层厚度分别为１５０ｍｍ和５００ｎｍ的组织。材料的屈服强度随着合金晶粒尺度和片层厚度的境加而减小，符合Ｈａｌｌ－Ｐａｔｃｈ关系，Ｋｙ值为１．８２。材料的蠕变抗力随片层厚度的境枷而减小，但是对晶粒尺度的变化 |
| 关 键 词： | TiAl全片层组织 片层厚度 晶凿尺度 屈服强度 |
| 修稿时间： | 1999-04-26 |
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