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碳酰胺与氢化锆高温下原位反应层的AES/XPS分析
引用本文:闫国庆,陈洋,吴明,彭家庆,王力军.碳酰胺与氢化锆高温下原位反应层的AES/XPS分析[J].稀有金属材料与工程,2016,45(12):3302-3305.
作者姓名:闫国庆  陈洋  吴明  彭家庆  王力军
作者单位:北京有色金属研究总院,北京有色金属研究总院,北京有色金属研究总院,北京有色金属研究总院,北京有色金属研究总院
基金项目:国家自然科学资助(项目号51404034)
摘    要:采用碳酰胺高温分解产生含C、O、N源与氢化锆原位反应制备阻氢渗透层,借助俄歇电子能谱(AES)和X射线光电子能谱(XPS)等手段对阻氢渗透层元素成分及深度、键态进行分析。AES结果表明:氢化锆表面原位反应层由C、N、O、Zr元素组成,随溅射时间增加,O、Zr元素含量增加,C、N元素含量降低。原位反应层厚度约3.4μm,其中含N、C层深度约150 nm。氢化锆表面阻氢渗透层XPS分析表明,表面层存在ZrO_2,同时有Zr-OH、Zr-N、C-H、N-H键。氢在扩散过程中被C、O、N捕获表明含C、O、N的氢化锆表面原位反应层对氢的渗透有一定的阻碍作用。

关 键 词:氢化锆  阻氢渗透层  碳酰胺  XPS  AES
收稿时间:2016/1/25 0:00:00
修稿时间:2016/5/17 0:00:00

Investigation of Coatings Formed by Reaction Urea and Zirconium Hydride at High Temperature by AES and XPS Technique
Yan Guoqing,Chen Yang,Wu Ming,Peng Jiaqing and Wang Lijun.Investigation of Coatings Formed by Reaction Urea and Zirconium Hydride at High Temperature by AES and XPS Technique[J].Rare Metal Materials and Engineering,2016,45(12):3302-3305.
Authors:Yan Guoqing  Chen Yang  Wu Ming  Peng Jiaqing and Wang Lijun
Abstract:
Keywords:zirconium hydride  hydrogen resistant coating  urea  auger electron spectroscopy  x-ray photoelectron spectroscopy ________________________
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