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ZnO压敏电阻片的基础研究和技术发展动态
引用本文:李盛涛.ZnO压敏电阻片的基础研究和技术发展动态[J].电瓷避雷器,1998(3):42-48.
作者姓名:李盛涛
作者单位:西安交通大学电气绝缘研究所!西安,710049
摘    要:从非欧姆导电机理、老化机理的深化和完善、功能微观结构作用和控制、粉料预处理和制造技术等方面对zno压敏电阻片的基础理论研究进行了概括;并指出,从技术发展动态看,主要是降低残压比、提高单位体积的能量耐受能力、提高压敏电位梯度、提高长期老化性能。

关 键 词:ZnO压敏电阻片  导电机理  老化机理  功能微观结构  技术发展趋势
本文献已被 CNKI 维普 等数据库收录!
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