ZnO压敏电阻片的基础研究和技术发展动态 |
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引用本文: | 李盛涛.ZnO压敏电阻片的基础研究和技术发展动态[J].电瓷避雷器,1998(3):42-48. |
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作者姓名: | 李盛涛 |
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作者单位: | 西安交通大学电气绝缘研究所!西安,710049 |
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摘 要: | 从非欧姆导电机理、老化机理的深化和完善、功能微观结构作用和控制、粉料预处理和制造技术等方面对zno压敏电阻片的基础理论研究进行了概括;并指出,从技术发展动态看,主要是降低残压比、提高单位体积的能量耐受能力、提高压敏电位梯度、提高长期老化性能。
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关 键 词: | ZnO压敏电阻片 导电机理 老化机理 功能微观结构 技术发展趋势 |
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