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半导体器件在辐射作用下的电学输出性能研究
引用本文:王关全,张华明,罗顺忠,胡睿,高晖,杨玉青,魏洪源,宋宏涛.半导体器件在辐射作用下的电学输出性能研究[J].同位素,2008,21(4):198.
作者姓名:王关全  张华明  罗顺忠  胡睿  高晖  杨玉青  魏洪源  宋宏涛
作者单位:中国工程物理研究院核物理与化学研究所,四川,绵阳,621900
基金项目:中国工程物理研究院科学技术发展基金资助  
摘    要:半导体结型器件是决定辐射伏特效应同位素电池能量转换效率的核心部件。采用加速器产生的不同能量电子束和63Ni源的β射线对硅基PIN结型器件进行辐照,在线测量了其电学输出性能。当电子束能量为18 keV,可得到大于4%的能量转换效率;电子束能量为6 keV,能量转换效率在0.16%~0.33%之间; 活度2.96×108 Bq的63Ni源片辐照的能量转换效率为0.1%左右。

关 键 词:辐射伏特效应同位素电池  半导体器件  能量转换效率
收稿时间:2008-04-14

Electrical Capabilities of Silicon Diode on Irradiating
WANG Guan-quan,ZHANG Hua-ming,LUO Shun-zhong,HU Rui,GAO Hui,YANG Yu-qing,WEI Hong-yuan,SONG Hong-tao.Electrical Capabilities of Silicon Diode on Irradiating[J].Isotopes,2008,21(4):198.
Authors:WANG Guan-quan  ZHANG Hua-ming  LUO Shun-zhong  HU Rui  GAO Hui  YANG Yu-qing  WEI Hong-yuan  SONG Hong-tao
Abstract:Semiconductor diode is the core of betavoltaic microbattery, it is the key to decide energy conversion efficiency. A sort of silicon diodes were irradiated by electron beam and 63Ni, measured their electrical capabilities on line. The energy conversion efficiency was higher than 4%, between 0.16% and 0.33% and about 0.1% when irradiated by the energy of electron beam was 18 keV, 6 keV, and 2.96×108 Bq of 63Ni respective.
Keywords:betavoltaic microbattery  semiconductor diode  energy conversion efficiency
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