加速器CT无损检测大尺寸C/SiC复合材料构件 |
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引用本文: | 江柏红,于士章,江玉朗,高晓进,周金帅.加速器CT无损检测大尺寸C/SiC复合材料构件[J].核电子学与探测技术,2019,39(1). |
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作者姓名: | 江柏红 于士章 江玉朗 高晓进 周金帅 |
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作者单位: | 航天特种材料及工艺技术研究所,北京,100074;航天特种材料及工艺技术研究所,北京,100074;航天特种材料及工艺技术研究所,北京,100074;航天特种材料及工艺技术研究所,北京,100074;航天特种材料及工艺技术研究所,北京,100074 |
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摘 要: | 针对回转体和扁平体结构的大尺寸C/SiC复合材料构件,设计了可表征缺陷检测分辨率的像质计,研究了射线能量、准直器宽度等因素对不同类型构件检测结果的影响情况。结果表明:射线能量、准直器宽度及构件尺寸、形状等因素决定了构件内部缺陷检测分辨率;准直器的选择取决于构件的尺寸、形状等特征;射线能量的选择取决于构件的最大穿透厚度。
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关 键 词: | C/SiC复合材料 加速器CT 准直器 无损检测 |
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