| 静态随机存储器的电磁脉冲效应实验研究 |
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| 引用本文： | 韩军,谢彦召,翟爱斌,姚志斌.静态随机存储器的电磁脉冲效应实验研究[J].核电子学与探测技术,2010,30(11). |
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| 作者姓名： | 韩军 谢彦召 翟爱斌 姚志斌 |
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| 摘 要： | 实验研究了静态随机存储器(SRAM)的电磁脉冲效应,重点研究存储器容量不同、不同脉冲宽度脉冲场激励以及存储器读写状态与否等情况下的效应规律,实验场强在2.5至40 kV/m之间。实验结果表明,存储器处于读写状态即片选有效时其效应更为严重,存储器的翻转效应与存储容量大小、激励电磁脉冲的脉冲宽度关系不大,电磁脉冲的场强幅值是其主要的敏感参数。
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| 关 键 词： | 存储器 电磁脉冲 翻转 脉冲宽度存储容量 |
Experimental Investigation on EMP Effect of SRAM |
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| HAN Jun,XIE Yan-zhao,ZHAIi Ai-bin,YAO Zhi-bin.Experimental Investigation on EMP Effect of SRAM[J].Nuclear Electronics & Detection Technology,2010,30(11). |
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| Authors: | HAN Jun XIE Yan-zhao ZHAIi Ai-bin YAO Zhi-bin |
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