| 基于反符合测量技术的HPGe γ谱仪系统峰康比影响因素研究 |
| |
| 引用本文： | 周春林,黎素芬,徐从学.基于反符合测量技术的HPGe γ谱仪系统峰康比影响因素研究[J].核电子学与探测技术,2006,26(4):429-433. |
| |
| 作者姓名： | 周春林 黎素芬 徐从学 |
| |
| 作者单位： | 第二炮兵工程学院102室,陕西西安,710025 |
| |
| 摘 要： | 介绍了反康普顿HPGeγ谱仪系统的结构组成和井型反符合工作原理,对系统在有无反符合测量条件、源与环探测器相对距离以及源强对峰康比的影响进行了实验研究.实验结果表明,系统在反符合测量条件下,标尺相对位置为46.5cm,源强较弱的情况时,反符合测量技术对系统具有很好的抑制康普顿坪的作用,系统峰康比可达最佳值.
|
| 关 键 词： | 低本底 反康普顿 HPGe(谱仪 反符合测量 |
| 文章编号： | 0258-0934(2006)04-0429-05 |
| 修稿时间： | 2005年10月20 |
Study on influence factors of the peak-to-Compton ratio of the HPGe γ-ray spectrometer system based on the anti-coincidence measuring technique |
| |
| ZHOU Chun-lin,LI Su-fen,XU Cong-xue.Study on influence factors of the peak-to-Compton ratio of the HPGe γ-ray spectrometer system based on the anti-coincidence measuring technique[J].Nuclear Electronics & Detection Technology,2006,26(4):429-433. |
| |
| Authors: | ZHOU Chun-lin LI Su-fen XU Cong-xue |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | |
| 本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录！ |
|
