| 硅漂移(SDD)阵列探测器X射线能谱测量诊断 |
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| 引用本文： | 杨进蔚,张炜,宋先瑛,李旭.硅漂移(SDD)阵列探测器X射线能谱测量诊断[J].核电子学与探测技术,2004,24(4):331-334. |
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| 作者姓名： | 杨进蔚 张炜 宋先瑛 李旭 |
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| 作者单位： | 核工业西南物理研究院,四川成都,610041 |
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| 摘 要： | 采用最新的SDD探测器阵列测量HL-2A托卡马克等离子体软X射线(1～20keV)辐射的能谱，获得电子温度、Zeff、重金属杂质含量绝对值及其时、空分布。由于SDD探测器较之传统的Si(Li)探测器有体积小、计数率高(≥10^6／S)，能量分辨和量子效率高，不需液氮冷却的特点，并采用高速ADC和海量缓存器，电子温度测量的时、空分辨能力接近汤姆逊散射和ECE等方法．而测量精确度、使用寿命、造价、抗干扰能力、适应性等方面优于后者．且信息获取量大，可获得多种等离子体参数而备受重视，是一种最先进的诊断手段。
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| 关 键 词： | 硅漂移探测器 软X射线能谱 电子温度 磁约束聚变装置 |
| 文章编号： | 0258-0934(2004)04-0331-04 |
| 修稿时间： | 2003年3月4日 |
Silicon drift detector array for X-ray spectroscopy |
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| YANG Jin-wei,ZHANG Wei,SONG Xian-ying,LI Xu.Silicon drift detector array for X-ray spectroscopy[J].Nuclear Electronics & Detection Technology,2004,24(4):331-334. |
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| Authors: | YANG Jin-wei ZHANG Wei SONG Xian-ying LI Xu |
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| Abstract: | The silicon drift detector (SDD) has state of the art high energy resolution and can be operated in room temperature. The array of SDD will be used to measure the X-ray spectroscopy of the HL-2A Tokamak, including the parameters of plasma electron temperature profile, Z_(eff) profile, concentration of metal impurities, and distribution of electron velocity. This is an advantageous semi-conductor detector for diagnosis of fusion plasma. |
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| Keywords: | silicon drift detector (SDD) soft x-ray energy spectrum electron temperature |
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