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| 用 NaI(TI)γ 谱仪测量环境 γ 照射量率的总谱能量法 | |
| 引用本文： | 朱国义,汤月里,刘树德,刘曙东.用 NaI(TI)γ 谱仪测量环境 γ 照射量率的总谱能量法[J].辐射防护,1984(4). |
| 作者姓名： | 朱国义 汤月里 刘树德 刘曙东 |
| 作者单位： | 中国科学院高能物理研究所 (朱国义，汤月里，刘树德)，中国科学院高能物理研究所(刘曙东) |
| 摘 要： | 本文介绍用 NaI(Tl)γ谱仪测量环境γ照射量率的总谱能量法。谱仪用标准镭源刻度,刻度系数 K_r 为17.82(GeV/20min)/(μR/h),环境γ照射量率测量值的总不确定度约为±9.5%,在玉泉路高能所内外20多个测量点上的测量结果表明,γ谱仪与高气压电离室的测量值较好符合。文中还讨论了用总谱能量法测量环境γ照射量率时的几个有关问题。 |
| 关 键 词： | 总潜能量 地层γ照射量率 NaI(Tl)γ谱仪 |
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