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塑料薄膜基上镀纳米SiOx涂层的表征及性能研究
引用本文:张改梅,陈强,何存富,朱惠钦. 塑料薄膜基上镀纳米SiOx涂层的表征及性能研究[J]. 中国印刷与包装研究, 2010, 2(Z1): 422-422
作者姓名:张改梅  陈强  何存富  朱惠钦
作者单位:1. 北京印刷学院,印刷与包装工程学院,北京,102600;北京工业大学,北京,100124
2. 北京印刷学院,印刷与包装工程学院,北京,102600
3. 北京工业大学,北京,100124
基金项目:国家自然科学基金,北京市市委组织部优秀人才培养项目
摘    要:本文利用等离子体气相化学沉积(PECVD)的方法,在聚对苯二甲酸乙二醇酯(PET)和双向拉伸聚丙烯(BOPP)薄膜上制备了纳米厚度的SiOx涂层。使用傅里叶变换红外光谱(FTIR)、原子力显微镜(AFM)和超声原子力显微镜(UAFM)对纳米厚度的SiOx薄膜进行表征。利用AFM和UAFM,可以得到SiOx薄膜的形貌和超声幅值成像。尤其是本文使用的新方法UAFM,可以表征表面和次表面缺陷。同时,本文实验研究了,镀SiOx的PET和BOPP薄膜的拉伸性能、接触角和阻隔性。结果表明,SiOx涂层提高了塑料薄膜的阻隔性、拉伸性能。

关 键 词:SiOx薄膜  阻隔性  超声原子力显微镜  表征

Research Oil the Characterization and the Properties of SiOx Coating on Plastic Film
ZHANG Gaimei,CHEN Qiang,HE Cunfu,ZHU Huiqin. Research Oil the Characterization and the Properties of SiOx Coating on Plastic Film[J]. China Printing and Packaging Study, 2010, 2(Z1): 422-422
Authors:ZHANG Gaimei  CHEN Qiang  HE Cunfu  ZHU Huiqin
Affiliation:1 (1.Laboratory of Plasma Physics and Materials,Beijing Institute of Graphic Communication,Beijing 102600,China; 2.College of Mechanical Engineering & Applied Electronics Technology,Beijing University of Technology,Beijing 100124,China.)
Abstract:本文利用等离子体气相化学沉积(PECVD)的方法,在聚对苯二甲酸乙二醇酯(PET)和双向拉伸聚丙烯(BOPP)薄膜上制备了纳米厚度的SiOx涂层。使用傅里叶变换红外光谱(FTIR)、原子力显微镜(AFM)和超声原子力显微镜(UAFM)对纳米厚度的SiOx薄膜进行表征。利用AFM和UAFM,可以得到SiOx薄膜的形貌和超声幅值成像。尤其是本文使用的新方法UAFM,可以表征表面和次表面缺陷。同时,本文实验研究了,镀SiOx的PET和BOPP薄膜的拉伸性能、接触角和阻隔性。结果表明,SiOx涂层提高了塑料薄膜的阻隔性、拉伸性能。
Keywords:SiOx film  Barrier properties  Ultrasonic atomic force microscopy  Characterization
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