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基于决策树支持向量机的苹果表面缺陷识别
引用本文:邱光应,彭桂兰,陶丹,王峥荣.基于决策树支持向量机的苹果表面缺陷识别[J].食品与机械,2017,33(9):131-135.
作者姓名:邱光应  彭桂兰  陶丹  王峥荣
作者单位:西南大学工程技术学院,重庆 400716
基金项目:中央高校科研业务费课题(编号:XDJK2016A007);博士启动基金项目(编号:SWU114109);中央高校基本科研业务费双创项目(编号:XDJK2016E050)
摘    要:在基于机器视觉苹果缺陷识别过程中,因果梗/花萼与缺陷表皮颜色相似,极大地降低苹果表面缺陷识别准确率,提出一种基于决策树支持向量机(DT-SVM)的苹果表面缺陷识别方法。该方法首先采用单阈值法去除背景,其次在R通道中利用Otsu法和连通域标记法提取目标区域(果梗、花萼和缺陷)的颜色、纹理和形状特征,最后利用决策树支持向量机进行识别。以600幅富士苹果图像为例,使用该方法进行缺陷识别,结果表明该方法的平均准确率为97.7%。与1-V-1多分类支持向量机(1-V-1SVM)和AdaBoost分类算法相比,DT-SVM方法正确率高、耗时短。说明决策树支持向量机对苹果表面缺陷识别十分有效。

关 键 词:苹果  表面缺陷  识别  果梗/花萼  决策树支持向量机(DT-SVM)

Detection on surface defect of apples by DT-SVM method
QIUGuangying,PENGGuilan,TAODan,WANGZhengrong.Detection on surface defect of apples by DT-SVM method[J].Food and Machinery,2017,33(9):131-135.
Authors:QIUGuangying  PENGGuilan  TAODan  WANGZhengrong
Affiliation:College of Engineering and Technology, Southwest University, Chongqing 400716, China
Abstract:
Keywords:apple  surface defect detection  recognize  stem/calyx  DT-SVM
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