| 高压脉冲电场对酵母菌和大肠杆菌存活率的影响 |
| |
| 引用本文： | 孙静,孔繁东,祖国仁,但果,邹积岩.高压脉冲电场对酵母菌和大肠杆菌存活率的影响[J].食品科学,2004,25(2):87-90. |
| |
| 作者姓名： | 孙静 孔繁东 祖国仁 但果 邹积岩 |
| |
| 作者单位： | 1. 大连轻工业学院生物与食品工程学院,大连,116034
2. 大连理工大学电气系,大连,116024 |
| |
| 摘 要： | 本文研究了高压脉冲电场对酿酒酵母和大肠杆菌的致死率的影响，并对脉冲电场的灭菌机理进行了初步探究。结果表明：随着电场强度、脉宽和脉冲个数的增加，微生物的存活率显著下降，在9kV／cm场强下作用1000个脉宽为11μs的脉冲，可得到最优灭菌效果-酵母菌活菌数下降4．5个对数值，大肠杆菌活菌数下降3个对数值。电场作用后死亡酵母菌表面出现凹陷，胞内物质外渗，支持了用以解释高压脉冲电场灭菌机理的“电穿孔”学说。
|
| 关 键 词： | 高压脉冲电场 酵母菌 大肠杆菌 存活率 灭菌机理 食品加工 |
| 文章编号： | 1002-6630(2004)02-0083-04 |
The Effects of High Power Pulsed Electric Field on the Survivabitlity of S.cerevisiae and E.coli |
| |
| SUN Jing,KONG Fan-dong,ZHU Guo-ren,DAN Guo,ZOU Ji-yan.The Effects of High Power Pulsed Electric Field on the Survivabitlity of S.cerevisiae and E.coli[J].Food Science,2004,25(2):87-90. |
| |
| Authors: | SUN Jing KONG Fan-dong ZHU Guo-ren DAN Guo ZOU Ji-yan |
| |
| Affiliation: | SUN Jing1,KONG Fan-dong1,ZHU Guo-ren1,DAN Guo2,ZOU Ji-yan2 |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | high power pulsed electric field S cerevisiae E coli survivability |
| 本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录！ |
| 点击此处可从《食品科学》浏览原始摘要信息 |
|
点击此处可从《食品科学》下载全文 |
