基于ARM Cortex-M0的开关磁阻电机参数检测系统设计 |
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引用本文: | 荣晓明,蔡燕,姜文涛.基于ARM Cortex-M0的开关磁阻电机参数检测系统设计[J].科技创新与应用,2015(5):35. |
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作者姓名: | 荣晓明 蔡燕 姜文涛 |
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作者单位: | 天津工业大学电工电能新技术天津市重点实验室 |
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摘 要: | 为了实现对开关磁阻电机驱动系统(SRD)工作状态的实时监测及分析,设计了一种基于ARM Cortex-M0对SRD系统的母线电压、瞬时相电流、转速等参数实时检测和采集的系统。单片机对系统的母线电压、瞬时相电流、转速及温度进行实时检测,将采集到的数据经网卡传输给上位机,由上位机将数据以图形的方式显示,并同步存储到MYSQL数据库,方便调用分析。通过这样的设计,不仅为开关磁阻电机的性能优化和故障分析提供了数据支持,同时也为SRD系统过压保护、过流保护、过热保护的设计提供了依据。
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关 键 词: | 开关磁阻电机 参数检测 单片机 工业以太网 上位机 |
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