| 镍基双晶晶界疲劳屏蔽效应 |
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| 引用本文： | 万建松,岳珠峰,耿晓亮,卢智先.镍基双晶晶界疲劳屏蔽效应[J].机械科学与技术(西安),2001,20(Z1):54-56. |
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| 作者姓名： | 万建松 岳珠峰 耿晓亮 卢智先 |
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| 作者单位： | 万建松（西北工业大学,工程力学系,西安,710072）
岳珠峰（西北工业大学,工程力学系,西安,710072）
耿晓亮（西北工业大学,工程力学系,西安,710072）
卢智先（西北工业大学,工程力学系,西安,710072） |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金(59501009)和航空基础研究基金资助 |
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| 摘 要： | 对晶界平行裂纹和晶界垂直裂纹的双晶体进行三点弯曲疲劳实验,研究了双晶晶界的疲劳裂纹扩展规律,测定了双晶的疲劳扩展速率,揭示了晶界对晶粒疲劳裂纹扩展的屏蔽效应当裂纹距晶界某一特定长度时,裂纹扩展速度最快;而裂纹顶端交于晶界时,裂纹扩展速度最慢.进一步的晶体滑移有限元数值分析揭示了这种屏蔽效应的机理裂纹的扩展速度与裂纹顶端的应力场,而裂纹顶端的应力场又与晶粒和晶界的相对位置有关.
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| 关 键 词： | 双晶 疲劳 晶界 屏蔽效应 |
| 文章编号： | 1003-8728(2001)ZK-0054-03 |
| 修稿时间： | 2001年5月17日 |
Shielding Effect at Ni-base Bicrystals Grain Boundary |
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