低频磁屏蔽效果的测量 |
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引用本文: | 吕仁清,蒋全兴,朱惠民.低频磁屏蔽效果的测量[J].电子机械工程,1985,1(1):54-62. |
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作者姓名: | 吕仁清 蒋全兴 朱惠民 |
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摘 要: | 低频磁场干扰是电子设备中普遍存在的问题。如何正确地进行磁屏蔽设计,采用何种磁屏蔽措施能有效地抑制磁场干扰,以及对磁屏蔽体屏蔽效果如何测量等都是电子设备结构计人员十分关心的问题、本文介绍了屏蔽效果的测量方法,并以示波管屏蔽罩为例,对其屏蔽效果进行了测量,分析了影响屏蔽效果的各种因素。
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