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| 用PW2400型X射线荧光仪测定催化裂化平衡剂上金属杂质及轻稀土含量 | |
| 引用本文： | 张家强,柳青娥,等.用PW2400型X射线荧光仪测定催化裂化平衡剂上金属杂质及轻稀土含量[J].国外分析仪器技术与应用,2001(1):65-68. |
| 作者姓名： | 张家强 柳青娥 |
| 摘 要： | 本文利用X射线荧光光谱仪（XRF），采用外标法建立了测定催化裂化平衡剂上铁、镍、铜、钒、锑、钙、钠和轻稀土镧、铈、镨、钕及钐等十二种元素含量的方法。该方法准确、快速且简便，适合于对催化裂化平衡剂的常规分析和监控分析。 |
| 关 键 词： | X射线荧光光谱仪 催化裂化平衡剂 金属杂质 轻稀土 测定 |
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