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| 示差扫描量热仪：光学显微镜（FP84HTDSC—PLM）联用热分析技术 | |
| 引用本文： | 张树范,陈金凤.示差扫描量热仪：光学显微镜（FP84HTDSC—PLM）联用热分析技术[J].国外分析仪器技术与应用,1999(3):47-50. |
| 作者姓名： | 张树范 陈金凤 |
| 作者单位： | [1]中国科学院化学研究所 [2]梅特勒－托利多仪器（上海有限公司） |
| 摘 要： | 本文概述梅特勒公司产品之一的ＣＳＣ－ＰＬＭ示差扫描量热仪与光学显微镜联用。它广泛应用于聚合行科学和工程、化学工业、生物化学等的科研及生产监测。一机多用，同步测量热流和结构形态变化。 |
| 关 键 词： | 热流 结构形态 示差扫描量热仪 光学显微镜 |
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