融合改进小波变换的小型磁瓦表面缺陷检测方法研究

针对磁瓦表面光照不均匀且表面纹理复杂的问题，提出一种改进小波自适应阈值去噪方法来消除磁瓦表面复杂的纹理，同时又能较好的保持边缘；针对传统的阈值分割方法面对磁瓦表面照明不均匀不能较好的分离背景和前景问题，将自适应阈值分割方法进行了改进，经过形态学处理和边缘检测实现了磁瓦缺陷的检测。研究表明，所用的滤波方法运行时间为0.0866秒，检测准确度达到了90.6%，并且改进后的自适应阈值分割更有利于提取缺陷，为磁瓦的缺陷检测提供了一种可实现的解决方案。