首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

数显卡尺测量不确定度分析
作者姓名:王英
作者单位:哈尔滨量具刃具集团有限责任公司
摘    要:<正>1测量误差分析在实际应用中出现的数显卡尺测量误差是由定栅误差和卡尺本身制造误差(零件的形状和位置误差)、使用引起的误差(测量力引起的误差、不准确的测量引起的误差)以及其它各种偶然原因导致的误差影响的。

关 键 词:测量不确定度分析  数显卡尺  位置误差  制造误差  测量误差  误差影响  测量力
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号