| 近红外光谱结合极限学习机识别贮藏期的损伤猕猴桃 |
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| 引用本文： | 郭文川,王铭海,谷静思,朱新华. 近红外光谱结合极限学习机识别贮藏期的损伤猕猴桃[J]. 光学精密工程, 2013, 21(10) |
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| 作者姓名： | 郭文川 王铭海 谷静思 朱新华 |
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| 作者单位： | 西北农林科技大学机械与电子工程学院,陕西杨凌,712100 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金资助项目，中央高校基本科研业务费专项资金资助项目 |
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| 摘 要： | 为了及时、准确地识别采摘后贮藏期间的损伤猕猴桃,降低果实腐烂及交叉感染带来的损失,采用近红外漫反射光谱技术结合极限学习机(ELM)建立了采摘后2℃冷藏下10天内的碰撞损伤猕猴桃、挤压损伤猕猴桃与无损猕猴桃的动态判别模型.分别比较了无信息变量消除法(UVE)与连续投影算法(SPA)结合UVE优选特征波数建模对简化模型、提高预测性能的影响.结果表明,碰撞损伤猕猴桃比挤压损伤猕猴桃更容易同无损猕猴桃区分开来,且随着贮藏时间的延长,损伤猕猴桃更容易被识别;UVE-SPA-ELM模型的判别效果最好,在采后贮藏10天内预测集中损伤猕猴桃和无损猕猴桃的总正确识别率为92.4％.该检测技术具有较高的检测精度和适用性,可用于快速、无损鉴别损伤猕猴桃.
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| 关 键 词： | 近红外光谱 图像识别 猕猴桃 贮藏期 极限学习机 |
Identification of bruised kiwifruits during storage by near infrared spectroscopy and extreme learning machine |
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| GUO Wen-chuan , WANG Ming-hai , GU Jing-si , ZHU Xin-hua. Identification of bruised kiwifruits during storage by near infrared spectroscopy and extreme learning machine[J]. Optics and Precision Engineering, 2013, 21(10) |
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| Authors: | GUO Wen-chuan WANG Ming-hai GU Jing-si ZHU Xin-hua |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | near infrared spectroscopy image identification kiwifruit storage period extreme learning machine identification |
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