| 用电学参数表征晶体硅太阳电池特性 |
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| 引用本文： | 周春兰,王文静,李海玲,赵雷,刁宏伟.用电学参数表征晶体硅太阳电池特性[J].光学精密工程,2008,16(7). |
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| 作者姓名： | 周春兰 王文静 李海玲 赵雷 刁宏伟 |
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| 作者单位： | 中国科学院,电工研究所,北京,100080 |
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| 基金项目： | 国家863研究发展计划资助项目 |
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| 摘 要： | 为了分析3种不同类型的商业太阳电池片,即P型铸造多晶硅太阳电池、定边喂膜生长硅(EFG)太阳电池和单晶硅太阳电池中存在的影响电池效率的可能性缺陷,对太阳电池的电性能参数如光谱响应曲线、短路电流的二维分布、串联电阻、并联电阻、二极管理想因子、反向饱和电流等进行了表征和分析.对比分析了对太阳电池增加偏置白光前后的光谱响应(外量子效率EQE)曲线,然后采用光束诱导电流(LBIC)法和电流-电压(I-V) (暗,光照)法分别测试了太阳电池中形成漏电缺陷的面分布和太阳电池的电性能参数并借助于太阳电池的二极管等效模型拟合了I-V曲线.结合这3种分析测试方法,得出在铸造多晶硅、EGF太阳电池中影响电池参数的主要缺陷是晶界、位错以及材料中的杂质,而影响单晶硅太阳电池的却是存在于体内的金属杂质等.由于原材料中存在不同的少子复合中心,使最终多晶硅,EFG和单晶硅太阳电池的转换效率分别为10.5%,11.7%和15.7%.
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| 关 键 词： | 晶体硅 太阳电池 转换效率 电学参数 晶体缺陷 |
Characterization of crystalline silicon solar cells by electrical parameters |
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| ZHOU Chun-lan,WANG Wen-jing,LI Hai-ling,ZHAO Lei,DIAO Hong-wei.Characterization of crystalline silicon solar cells by electrical parameters[J].Optics and Precision Engineering,2008,16(7). |
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| Authors: | ZHOU Chun-lan WANG Wen-jing LI Hai-ling ZHAO Lei DIAO Hong-wei |
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