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光栅纹影偏折法测量二维层化流体密度梯度
引用本文:孟涛,张明照,王克军,郭晓莉,王伯雄.光栅纹影偏折法测量二维层化流体密度梯度[J].光学精密工程,2008,16(6).
作者姓名:孟涛  张明照  王克军  郭晓莉  王伯雄
作者单位:1. 第二炮兵装备研究院,北京,100085
2. 清华大学,精密仪器与机械学系,北京,100084
基金项目:科技部中德科技合作重点项目
摘    要:提出了一种简单的流体密度梯度分布测量系统,该系统在传统纹影系统中引入计量光栅,将光线因流体密度变化引起的偏折转变为投影条纹图的变形,通过分析变形条纹图来提取流体密度梯度分布信息.在分析条纹图时,使用小波变换相位分析法,利用小波变换的局部化特性,有效消除无效数据的影响.实验结果表明:系统的密度梯度测量范围能够达到0.01 g/cm4,测量精度能够达到5×10-6 g/cm4.系统装置简单,调节方便,适用于密度变化大的流体密度梯度测量.

关 键 词:Ronchi光栅  纹影法  小波分析  相位解调  流体密度梯度

Measurement of density gradient for 2D flow field using grating schlieren deflectometry
MENG Tao,ZHANG Ming-zhao,WANG Ke-jun,GUO Xiao-li,WANG Bo-xiong.Measurement of density gradient for 2D flow field using grating schlieren deflectometry[J].Optics and Precision Engineering,2008,16(6).
Authors:MENG Tao  ZHANG Ming-zhao  WANG Ke-jun  GUO Xiao-li  WANG Bo-xiong
Abstract:
Keywords:
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