| 基于微分干涉相衬的相位分析法研究 |
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| 引用本文： | 杨险峰,丁志华.基于微分干涉相衬的相位分析法研究[J].光学仪器,2008,30(2):17-20. |
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| 作者姓名： | 杨险峰 丁志华 |
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| 作者单位： | 九江学院机械工程学院,江西,九江,332005 |
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| 摘 要： | 通过对微分干涉相衬显微定量测量方法进行研究,提出了一种更有效的相位分析法。即在不对双光束干涉光路进行改造或处理的前提下,通过对光学成像进行处理而得到理想的结果。即把图像中的光强信号转变成相位信号,并通过维纳滤波对噪声进行了消除,最后获得表面微观形貌定量参数。
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| 关 键 词： | 微分干涉相衬(DIC) 定量测量 维纳滤波 相位分析法 |
| 文章编号： | 1005-5630(2008)02-0017-04 |
| 收稿时间： | 2007/8/3 |
| 修稿时间： | 2007年8月3日 |
Phase analysis based on differential intereference contrast |
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| YANG Xianfeng,DING Zhihua.Phase analysis based on differential intereference contrast[J].Optical Instruments,2008,30(2):17-20. |
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| Authors: | YANG Xianfeng DING Zhihua |
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| Abstract: | A more effective phase analysis method is proposed through the research on differential interference contrast(DIC) microscopy method for quantitative measurement.Without changing of the two light beam interference path of rays,the ideal result is obtained by processing of optical imaging.Transforms the luminous intensity signal into the phase signal,and eliminates the noise by Wiener filter.At last,the quantitative parameter of surface topography is obtained. |
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| Keywords: | differential interference contrast(DIC) quantitative measurement Wiener filter phase analysis |
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