首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

功率谱密度函数评价方法探讨
引用本文:徐芳,魏全忠.功率谱密度函数评价方法探讨[J].光学仪器,2000,22(3):21-24.
作者姓名:徐芳  魏全忠
作者单位:中科院光电技术研究所,成都,610209
摘    要:高能量、高分辨力光学系统给传统的光学面形评价指标提出了新的要求。各项测试技术 ,信息理论的更新给我们的研究提供了可能。介绍采用 PSD功率谱密度函数来评价光学元件面形中频误差

关 键 词:光学元件  功率谱密度函数  傅里叶分析

Analysis about evaluating method of power spectral density function
XU Fang,WEI Quanzhong,Wu Fan.Analysis about evaluating method of power spectral density function[J].Optical Instruments,2000,22(3):21-24.
Authors:XU Fang  WEI Quanzhong  Wu Fan
Abstract:High energy,high resolution optical system put forward new demand for traditional analysis of surface profile.The updating of testing technology and information theory provides us possibility for study.We evaluate mid frequency error of optical component surface profile by power spectral density function.
Keywords:optical component  power spectral density function  Fourier analysis  
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
点击此处可从《光学仪器》浏览原始摘要信息
点击此处可从《光学仪器》下载全文
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号