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基于Harr小波变换的集成块引脚位置偏差检测
引用本文:方晖,罗罡,方志良,母国光.基于Harr小波变换的集成块引脚位置偏差检测[J].仪器仪表学报,2000,21(6):604-607.
作者姓名:方晖  罗罡  方志良  母国光
作者单位:南开大学现代光学研究所,教育部光电信息技术科学开放实验室,天津,300071
基金项目:天津市光电子联合科学研究中心基金
摘    要:集成块引脚的位置检测是集成块外观检测中必不可少的一个环节,本文提出了基于Harr小波变换的大型集成块引脚位置偏差检测方法,当Harr小波的尺度与引脚宽度相当时,小波变换结果中的零值点可用于确定引脚的中心线。该方法具有快速和精度高的特点。实验证明,该方法可达到40分之一像素的精度。

关 键 词:Harr小波变换  集成块引脚  位置偏差检测

Deviation Inspecting of DIP Chip Pin Location Based on Harr Wavelet Transforming
Fang Hui,Luo Gang,Fang Zhiliang,Mu Guoguang.Deviation Inspecting of DIP Chip Pin Location Based on Harr Wavelet Transforming[J].Chinese Journal of Scientific Instrument,2000,21(6):604-607.
Authors:Fang Hui  Luo Gang  Fang Zhiliang  Mu Guoguang
Abstract:The inspection of chip pin location is a necessary step in chip aspect measurement.A measurement method for it based on Harr wavelet transform calculation is proposed in this paper,that is locating the central line of leg according to the zero axial position of transform.The method has the merits of fast speed and high precision.The experiment showed that the measurement precision reached one fortieth pixel.
Keywords:IC chip  Aspect inspection  Harr  Wavelet transfo  
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