| 眼电伪迹自动去除方法的研究与分析 |
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| 引用本文： | 李明爱,梅意城,孙炎珺,杨金福.眼电伪迹自动去除方法的研究与分析[J].仪器仪表学报,2014(11). |
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| 作者姓名： | 李明爱 梅意城 孙炎珺 杨金福 |
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| 作者单位： | 北京工业大学电子信息与控制工程学院 北京 100124 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金，北京市自然科学基金，北京市教育委员会面上项目 |
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| 摘 要： | 脑电信号采集时很容易受到眼电信号的干扰，从而影响脑机接口系统的性能。为此，提出一种基于离散小波变换(DWT)和典型相关分析(CCA)的眼电伪迹自动去除方法，即 DCCA 法。首先，对采集的多导脑电信号和眼电信号进行离散小波变换，获得多尺度小波系数，并利用典型相关分析去除小波系数间的相关性，得到互不相关的典型小波系数；进而，利用相关系数判别眼迹成分，将相应典型小波系数置零并依次采用 CCA逆变换和 DWT逆变换重构剔除眼电伪迹后的脑电信号。基于9位实验者的4种眼电数据进行实验研究，并从统计学的角度对实验结果进行显著性检验。结果表明， DCCA法相对其他方法在均方根误差、信噪比方面具有显著优势，且具有较好的实时性，并表现出较强的适应能力。
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| 关 键 词： | 脑电接口 眼电伪迹去除 离散小波变换 典型相关分析 显著性检验 |
Research and analysis of ocular artifact automatic removal |
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| Li Mingai,Mei Yicheng,Sun Yanjun,Yang Jinfu.Research and analysis of ocular artifact automatic removal[J].Chinese Journal of Scientific Instrument,2014(11). |
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| Authors: | Li Mingai Mei Yicheng Sun Yanjun Yang Jinfu |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | brain computer interface ocular artifact removal DWT CCA significant test |
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