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性能指标驱动的半导体生产线动态派工方法
引用本文:贾鹏德,吴启迪,李莉.性能指标驱动的半导体生产线动态派工方法[J].计算机集成制造系统,2014,20(11).
作者姓名:贾鹏德  吴启迪  李莉
作者单位:同济大学电子与信息工程学院,上海,200092
基金项目:国家自然科学基金重点资助项目(61034004).Project supported by the National Natural Science Foundation
摘    要:为了求解不确定生产环境下的半导体生产线调度问题,提出一种基于极限学习机的性能指标驱动的动态派工方法。首先通过半导体生产线仿真系统仿真,得到所需样本,进而通过极限学习机建立半导体生产线性能指标预测模型;然后通过预测出的性能指标,结合生产线的实时状态信息,学习产生调度过程中的动态派工规则算法所需的最佳系数,驱动生产线派工决策,使其性能指标趋向预测值,最终达到提高生产线整体性能的目的。通过仿真平台验证了该方法能够有效提高生产线的性能指标。

关 键 词:半导体制造  性能指标驱动  调度方法  工况  极限学习机

Objective-driven dynamic dispatching rule for semiconductor wafer fabrication facilities
JIA Peng-de,WU Qi-di,LI Li.Objective-driven dynamic dispatching rule for semiconductor wafer fabrication facilities[J].Computer Integrated Manufacturing Systems,2014,20(11).
Authors:JIA Peng-de  WU Qi-di  LI Li
Abstract:
Keywords:semiconductor manufacturing  objective-driven  dispatching rule  working condition  extreme learning machine
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
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