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| 高密度柔性集成电路基板的表面氧化缺陷检测 | |
| 引用本文： | 胡跃明,李璐,罗家祥.高密度柔性集成电路基板的表面氧化缺陷检测[J].计算机集成制造系统,2020,26(9):2379-2387. |
| 作者姓名： | 胡跃明 李璐 罗家祥 |
| 作者单位： | 华南理工大学自动化科学与工程学院,广东广州 510640;精密电子制造装备教育部工程研究中心/广东省高端芯片智能封测装备工程实验室,广东广州 510640;华南理工大学自动化科学与工程学院,广东广州 510640;精密电子制造装备教育部工程研究中心/广东省高端芯片智能封测装备工程实验室,广东广州 510640;华南理工大学自动化科学与工程学院,广东广州 510640;精密电子制造装备教育部工程研究中心/广东省高端芯片智能封测装备工程实验室,广东广州 510640 |
| 基金项目： | 国家科技重大专项;国家自然科学基金;广州市南沙区技术攻关资助项目 |
| 摘 要： | |
| 关 键 词： | 柔性集成电路基板 颜色特征 表面氧化 缺陷检测 |
| 本文献已被 万方数据 等数据库收录！ | |