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| 狭缝光栅开口率与裸眼3D显示串扰之间的关系 | |
| 作者姓名： | 武延兵 李新国 董友梅 薛建设 张兴 王漪 魏伟 朱劲野 |
| 作者单位： | 北京大学软件与微电子学院;京东方科技集团股份有限公司 |
| 摘 要： | 研究了狭缝光栅开口率和3D串扰之间的关系。先采用固定式的狭缝光栅显示器件进行实验,发现2%～4%光栅开口率的增加导致了0.2%～2%串扰的增加,初步验证了"光栅开口率越高,3D串扰越大"的规律。考虑到2D显示产品的个体性能差异以及在贴合过程中的操作误差都可能对这个结果产生影响,又用TN盒制作成活动式狭缝光栅,通过改变电压来改变狭缝光栅的开口率,从而在其他条件都一致的情况下,测试出狭缝光栅透过率和3D串扰之间的关系。对于2视点的裸眼3D设备,随着控制电压从4V增大到15V,串扰逐步减小了1.6%,从而最终确认了"开口率越高,3D串扰越大"的规律。 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |