首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
相似文献
 共查询到20条相似文献,搜索用时 0 毫秒
1.
1 DDR 1&2&3总线概览 DDR全名为Double Data Rate SDRAM,简称为DDR.DDR技术已经发展到了DDR 3,理论上速度可以支持到1600MT/s.DDR总线走线数量多、速度快、操作复杂、探测困难,给测试和分析带来了巨大的挑战.  相似文献   

2.
高速互连中信号完整性测试单元分析   总被引:4,自引:1,他引:3  
介绍了高速互连中的信号完整性故障,主要探讨了由NMOS和PMOS管组成的内建高速互连检测单元,该单元用于对高速互连中的信号完整性故障进行测试。主要对已提出的2种故障检测单元进行了对比,分析了它们在信号完整性故障测试方面的不同特点,并用Hspice在有无噪声情况下进行了仿真,在理论分析和仿真结果方面显示了良好的一致性。  相似文献   

3.
在集成电路的设计中,常常会遇到CPU与SDRAM或者CPU与Flash之间的高速并行数据总线、地址总线接口设计,为了解决信号完整性问题,可以利用Cadence Allegro软件中的SigXplorer工具,加载人芯片厂商的元器件IBIS模型后,对高速并行总线进行信号特性的仿真观测和分析,继而为电路设计提供依据.设计时运用多种传输线终端匹配策略来抑制和消除信号线上的传输反射.仿真结果表明:合适的总线终端电阻端接方式有利于抑制传输线信号反射,利用仿真软件来选择合理的端接方案和元件参数,对总线以及信号完整性设计具有重要意义.  相似文献   

4.
介绍了DDR3的特点,在自主设计的基于Spartan-6FPGA的硬件平台上完成了DDR3的布线策略分析,利用IBIS模型对PCB版图进行了仿真。结合自动化测试软件和手动测试的方法对DDR3信号进行了实际测试。测试结果达到了预期目标。  相似文献   

5.
随着高速数字电路如专用集成电路AISC、片上系统SOC和超高速混合信号处理电路ADC、DAC等集成电路数字端口的数据率提升,被测集成电路的电参数测试过程中常受到测试系统信号完整性问题的影响,导致实测电参数结果与其实际性能有较大差异。为了更真实的反映被测器件(DUT)的电性能,提出了通过仿真和结合良好的PCB设计来解决测试系统信号完整性问题的方法,分析并解决了测试系统信号完整性仿真中模型不完善的相关问题。通过对一款DUT测试系统的信号完整性设计和测试,验证了设计方法和建模的有效性。  相似文献   

6.
基于Infiniium MSO9000系列示波器的DDR总线测试方案   总被引:1,自引:0,他引:1  
概述 DDR (Double Data Rate)DRAM由于性能和价格的优势,正日益广泛的应用于计算机平台以及各种嵌入式产品设计中。DDR规范从DDR1,DDR2发展到DDR3,并且也发展出主要应用于移动设备领域的LPDDR(低功耗DDR)。随着总线速度的提高,信号完整性问题,互操作问题越来越被设计和测试人员关注。而由于DDR总线复杂度高,探测困难,测试和分析也有非常大挑战。  相似文献   

7.
一种新的高速计算机信号完整性分析技术   总被引:1,自引:0,他引:1  
随着计算机速度的显著提高,信号完整性问题已经成为高速计算机设计中的关键。本文详细介绍了一种新的信号完整性分析技术,通过集成泰克公司逻辑分析仪和数字荧光示波器,将物理层模拟信号,数据层数字信号时间相关的联合观测,可以有效定位,分析高速计算机系统中出现的故障问题,排除由于信号完整性问题导致的计算机系统错误。最后结合MC68340的处理器和高速总线,给出了高速信号完整性分析实例。  相似文献   

8.
张文海 《微电机》2002,35(2):40-41,49
1 引 言接触可靠性是信号电机的一项重要指标。出厂检验时 ,要求每台电机必须进行接触可靠性检查。检查接触可靠性的方法有多种 ,但如何准确检测接触可靠性则值得研究。本文就有关标准规定的测试方法进行分析 ,并提出解决问题的方法。2 传统测试方法的优缺点2 .1 毫安表法毫安表法是一种《航空电感移相器技术条件》规定的接触可靠性测试方法 ,其原理如图 1所示。图中2~ 4V直流电压通过电位计 R、毫安表 m A加在被试电机转子上。调节电位计 ,使毫安表 m A指示电流 2 0 m A左右。测试时 ,用手以 2~ 3 r/min速度驱动转子 ,毫安表读数应…  相似文献   

9.
(2008年8月18日)泰克公司日前宣布,由泰克公司Dave Ireland参与编著的信号完整性新书:《信号完整性工程师的最佳伴侣:实时测试测量和设计仿真》已由Prentice Hall出版社出版,并由网上书店销售。  相似文献   

10.
《电子测量技术》2012,(2):142-143
美国力科公司—2012年的DesignCon博览会的钻石赞助商,将首次展示出其最新的创新产品和新技术,演示在速度、性能和分析能力方面持续保持领先地位的示波器和信号完整性测试解决方案。此外,力科的专家将展示7个技术专题,并参加两个行业小组,专注于以创新的方法来解决一些当今工程师们所面临的最重要的测试测量挑战。力科的工程师们也将亲临力科101展位和您一起进  相似文献   

11.
结合新一代高压继电保护ARP-300系列装置的研制过程,介绍了高压继电保护装置核心CPU板的基本功能及其组成,提出了当前新技术条件下继电保护装置在硬件设计与开发过程中所面临的高速信号完整性问题。通过对核心CPU板上关键电路中关键信号的仿真与分析,阐述了关键信号的布线规则设置及实现方法。CPU板卡上具体信号的实际波形测试结果以及对继电保护装置系统性的电磁兼容试验结果表明,对核心CPU板在板级硬件设计阶段所进行必要的信号完整性分析与设计工作,对提高系统硬件研发的一次成功率、提高继电保护装置运行的稳定性和可靠性具有重要的作用。  相似文献   

12.
美国力科公司作为2012年的DesignCon博览会的钻石赞助商,将手册展示出其最新的创新产品和新技术,演示在速度、性能和分析能力方面持续保持领先地位的示波器和信号完整性测试解决方案。此外,力科的专家将展示7个技术专题,并参加两个行业小组,  相似文献   

13.
泰克公司日前宣布,由泰克公司Dave Ireland参与编著的信号完整性新书:《信号完整性工程师的最佳伴侣:实时测试测量和设计仿真》。该书涵盖了从可行性研究到检验,从仿真到测试的整个生命周朗,为针对高速数字设计进行现代信号完整性的测试测量提供了实用指南。  相似文献   

14.
随着通讯技术和云计算技术发展,前端获取数据后上传至云端分析,然后再将云端分析结果回传至前端进行显示的APP设计和影音模式逐渐在生活中普及。借鉴其思路,提出一种JS+Python的测试信号分析云平台设计技术;其中网页型的JS前端页面程序负责信号获取和分析结果显示,而运行在云服务器上的Python程序则负责上传数据的云计算和分析。运行测试实验平台,数据和脚本上传后,服务器端能成功接收并调用脚本中对应的测试技术和控制理论算法对数据进行处理,并返回浏览器实现结果可视化。这样可最大限度降低前端设备的软硬件要求,便于实现由前端测量装置+后端测试信号分析云平台构成的设备运行故障监测与诊断网络。  相似文献   

15.
从理论上分析了接地电阻的几种典型测试原理,并对提高测试精度提出了几种切实可行的方法。对电流、电压的扦插位置作了较细致的研究;并对目前广泛应用的钳式接地电阻测试仪其测值的代表性阐述了观点。  相似文献   

16.
从理论上分析了接地电阻的几种典型测试原理,并对提高测试精度提出了几种切实可行的方法.对电流、电压的扦插位置作了较细致的研究;并对目前广泛应用的钳式接地电阻测试仪其测值的代表性阐述了观点.  相似文献   

17.
全球领先的测试、测量和监测解决方案供应商泰克公司(NYSE:TEK)宣布推出AWGS000系列任意波形发生器(AWG)。最新的AWGS000采用了与泰克新近推出的AWG7000系列任意波形发生器相同的平台。客户仅仅使用一台AWGS000便可为混合信号设备中的模拟电路、数字基带电路以及中频(IF)电路产生高分辨率信号,从而大大提高测试效率,降低了测试成本。AWGS000为各类数字RF技术(包括了软件定义的无线电(SDR)、雷达、WiMAX、WiFi、MIMO和UWB)的验证提供了理想选择。  相似文献   

18.
"测试信号分析与处理"是测控技术及仪器专业的核心课程之一,提出了在该课程教学改革中对学生自主学习能力的培养、学生创新能力的培养、学生实践能力的培养、学生国际化能力的培养和学生可持续发展能力的培养等内容的思考,并给出了自己的体会。  相似文献   

19.
全球领先的测试、测量和监测解决方案供应商泰克公司(NYSE:TEK)日前宣布推出AWG5000系列任意波形发生器(AWG)。最新的AWG5000采用了与泰克新近推出的AWG7000系列任意波形发生器相同的平台。现在,客户仅用一台AWG5000便可为混合信号设备中的模拟电路、数字基带电路以及中频(IF)电路产生高分辨率信号,从而大大提高测试效率,降低了测试成本。  相似文献   

20.
金龙  施一峰  褚国伟  王心坚  胡敏强 《微电机》2004,37(6):61-63,68
电机性能测试的离散数据中包含各种扰,必须对测试数据进行数字处理。文中用计算编程采集光电编码器脉冲值,并采用曲线拟合、数字滤波的方法对所测信号进行处理,得出电机运行特性曲线,为进一步改进超声波电机运行特性和提高控制的性能奠定基础。  相似文献   

设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号