用过采样和求均值技术提高模/数转换器的分辨率

针对目前单片机内嵌的模／数转换器(ADC)的分辨率太低，而外接高分辨率ADC成本又太高的情况，提出了用“过采样和求均值”的技术来使在有用的测量频带内的信噪比(SNR)得到改善，从而提高ADC测量的分辨率。并利用MATLAB对其结论进行仿真，且在单片机上予以实现，结果表明测量分辨率明显提高。     

基于STM32微控制器的过采样技术研究与实现

针对微控制器自带ADC精度较低而外部高精度ADC价格较高的情况,介绍了过采样技术提高微控制器ADC精度的基本原理,对其在基于Cortex—M3内核的STM32微控制器上的实现进行了可行性分析。经过初步数据分析,证明过采样技术可以在该微控制器上实现。结合微控制器特性,给出了具体的软件实现方法,并对其进行了测试。论文在最后还对过采样技术给处理器带来的负荷以及其本身的局限性进行了分析。实验证明,在STM32微控制器上使用过采样技术,能够减小处理器负荷、有效地提高其自带ADC的精度。     

基于STM32微控制器的过采样技术研究与实现

针对微控制器自带ADC精度较低而外部高精度ADC价格较高的情况,介绍了过采样技术提高微控制器ADC精度的基本原理,对其在基于Cortex—M3内核的STM32微控制器上的实现进行了可行性分析。经过初步数据分析,证明过采样技术可以在该微控制器上实现。结合微控制器特性,给出了具体的软件实现方法,并对其进行了测试。论文在最后还对过采样技术给处理器带来的负荷以及其本身的局限性进行了分析。实验证明,在STM32微控制器上使用过采样技术,能够减小处理器负荷、有效地提高其自带ADC的精度。     

基于AVR单片机的过采样原理的实现方法

基于工程整体需要,选用AVR单片机芯片中的mega128作为MCU。为了利用mega128自身的AD转换器,免去外部ADC芯片,在提高采样精度的同时降低硬件成本,设计采用过采样技术,将mega128单片机自带的10位AD转换器的精度提高到12位。依据过采样原理的限制条件,为了保证过采样原理应用的可靠性,设计引入了噪声激励信号。为了避免噪声激励可能出现的偏差,使用了mega128自身的计数器来生成噪声。最终实现了设计要求。     

提高ADC0809转换分辨率的一种新方法

介绍了一种提高ADC0809分辨率的方法，该方法可将其分辨率从8位提高到11位。文中不仅给出了原理电路．还举例说明了它的编码原理及测试方法。     

一种实现ADC采样数据回路自检的方法

ADC采样数据作为电力系统二次保护装置数据的重要来源,是保护装置动作行为的重要判断依据.然而目前市场上主流的多通道同步ADC芯片不具备采样数据校验功能,芯片焊接问题导致的采样数据异常无法及时发现,而这将可能导致保护装置误动作,造成严重的电力事故.本文提出了一种ADC采样数据回路自检的实现方法,通过外部自检回路回馈的方式巧妙的配合ADC芯片采样时序来检查ADC芯片是否存在焊接问题,从而判断ADC采样数据回路是否连接正常.该方法实时性高,可有效降低因ADC采样数据异常而导致保护装置错误的动作行为而产生的恶劣影响和经济损失.     

过采样∑-△ADC中∑-△调制器分析与研究

分析并讨论了过采样∑-△ADC中过采样技术和噪声整形技术的工作原理,∑-△调制器的级数对整形效果的影响及调制器的结构选择,并用MATLAB语言的simulink工具箱进行了系统级的仿真.     

提高工频信号A／D采样分辨率的方法研究

本文介绍了提高采样分辨率的原理以及提高工频信号A／D采样分辨率的两种方法：均值采样法和峰值采样法（包括直接峰值采样法和间接峰值采样法），并举出了一个应用实例，通过分析得出结论：间接峰值采样法在提高分辨率性能方面是最优的，但其硬件和软件要复杂一些。     

过采样Σ-Δ ADC中Σ-Δ调制器分析与研究

分析并讨论了过采样Σ-ΔADC中过采样技术和噪声整形技术的工作原理,Σ-Δ调制器的级数对整形效果的影响及调制器的结构选择,并用MATLAB语言的simulink工具箱进行了系统级的仿真。     

一种提高国产ADC模块采样精度的方法

为解决武器装备自主可控问题,以国产的处理器和多通道模数转换器（ADC）为核心,设计了一种完全国产化的多通道模拟信号采集模块。由于目前国产模拟芯片特别是模数转换器的精度指标较差,造成模拟信号采集模块精度较低,实用性较差。为提高采样精度,首先在采样时采用递推平均滤波方法,抑制采集信号中的周期性干扰,降低采集的随机误差。其次,对预先测量的几组数值进行一元线性回归,据此对采样值进行最小二乘估计,降低采集的固有偏置误差和增益误差。试验结果表明,该多通道模拟信号采集模块可同时采集多路模拟信号,采样精度高,最大采集误差由0.8%降低到0.12%,并且该模块通道间一致性好,可靠性高,国产化率达到100%,在武器装备中有良好的应用前景。     

ADC动态特性测试中采样率的选取研究

从ADC的模型建立出发,通过分析量化误差的频域特性和采样过程,提出了一种在频域对ADC进行动态特性测试时,如何根据输入信号频率f0选取恰当的ADC采样率fs的方法,从而有效避免谐波混叠现象,提高测试准确度.实验结果证明了理论分析的正确性,分析结果对ADC的测试和设计具有理论指导意义.     

降低高速,高分辨率ADC复杂性的一种设计

本文介绍了一种能降低高分辨率闪烁模／数转换器（ADC）电路复杂性的一种设计．这种高速、高分辨率ADC采用低分辨率的标准闪烁ADC板块组成，只需串联K个n位的标准闪烁ADC模块就可以构成一个k·n位高速ADC．使用本文提出的方法，可以很容易地用低分辨率的标准闪烁ADC模块实现4位和32位高速ADC．     

航空电缆故障检测设备的ADC增频方法

航空电缆用于连接电源设备和其他系统设备,以传输电能和信号,其性能直接影响飞机的运行安全,因此必须对航空电缆的故障进行严格的检测和排除.时域反射技术(Time Domain Reflectometry,TDR)是目前最为成熟的电缆故障检测方法,该技术根据反射脉冲与发射脉冲的时间间隔和相位关系来判断故障位置和类型.基于TDR技术的电缆故障检测设备通常使用ADC(Analog-to-Digital Converter)模块对检测信号进行采样,采样频率在很大程度上决定了故障检测精度.目前主要通过使用高精度的ADC采样模块或构建延时线来获得更高的采样精度,但是存在增加系统成本和复杂度的问题.针对上述问题,设计了一种ADC等效采样法,该方法通过对参考时钟延时得到延时时钟,依次以各延时时钟作为采样时钟对检测脉冲进行采样,采样结束后,依照采样顺序对采样数据进行排序并重构检测波形,从而在使用频率较低的ADC采样模块的情况下,获得更高的采样精度,极大地提高了基于TDR技术的电缆故障检测方法的精度.     

一种基于DSP和采样ADC的数字锁定放大器

探讨了用ＤＳＰ（数字信号处理器）和采样ＡＤＣ（模数转换器）实现数字锁定放大器的一种方法。在整数个周期内对被测信号进行采样得到信号序列,由数字运算得到参考序列,通过计算信号序列和参考序列的互相关函数就可实现数字相敏检测。文中还对数字相敏检测的频率的频率特性进行了分析。最后,给出了实际设计的数字锁定放大器,它的工作频率范围是１０Ｈｚ～３０ｋＨｚ,实验结果表明,可以用它来测量低信噪比的信号。     

基于CPLD的高速脉冲信号采集系统设计

介绍了一种基于CPLD(复杂可编程逻辑器件)的高速脉冲信号采集系统的设计与实现方案.该系统最大的特点是对离散脉冲信号的幅值进行采样,采样过程完全由CPLD控制,无需CPU干预.采用VHDL语言与模块化的设计思想设计了A/D采集控制模块、数据存储控制模块、微处理器接口模块,实现了多个串行ADC的同步脉冲采样与数据的实时存...     

多阶微分采样及其在高速ADC系统中的应用

首先阐明了多阶微分采样的原理,给出了更为简洁的完美重构条件。然后根据该条件导出了多阶微分采样完美重构滤波器组的频谱响应和理想的冲激响应。时理想滤渡器的冲激响应进行了延迟、截断和加窗来得到可实现的有限冲激（FIR）重构滤波器组,从而实现了高速的多阶微分采样型ADC系统。理论分析和仿真结果说明本文设计的重构滤波器组可以对多阶微分采样进行很好的重构,整个系统信纳比（SINAD）平均可迭83．3dB,无伪波动态范围（SFDR）平均达102．7dB。     

基于自适应相关多采样技术的CMOS图像传感器列级单斜ADC设计

为了降低CMOS图像传感器的噪声水平,本文提出了一种基于自适应相关多采样技术的单斜ADC,可以根据光强自动选择合适的斜坡信号完成A/D转换.通过在低照度下使用小范围、高增益的斜坡信号进行多采样操作,可以充分降低读出噪声.多斜坡发生器由温度计码电容型DAC实现,此外还分析并校准了斜坡信号的失调电压和增益误差.提出的单斜ADC是在标准的110 nm 1P4M工艺下设计仿真的.仿真结果表明:基于自适应相关多采样技术的单斜ADC不会增加总A/D转换时间,同时在8倍的前置放大器增益下实现了最低59μVrms的读出噪声.此外当前置放大器为2倍增益时,读出噪声从强光下的211μVrms降低到弱光下的92μVrms,噪声的降低对应于7.21 dB信噪比的提高.另外,本文的品质因数为3.77 nVrms·s.     

基于Arnold变换和采样理论的置乱技术研究

本文介绍了基于Arnold变换和采样理论的置乱技术,并详细给出了两种技术的置乱恢复程序,最后将二者结合,提出了一种双重置乱方案。     

AD0809与微机直接互连采样分析

在单片机外围扩展中,模拟至数字转换器（ADC）常用的标准电路在采样芯片和单片机之间需要多个元件对信号进行转换,虽然精度很高,但结构复杂,成本较高。该文对某些特定条件下用单片机进行ADC采样的方法进行了初步的探索,利用单片机直接与ADC0809进行连接,通过单片机l产生各种时钟和控制信号来完成ADC采样,简化了采样的线路。对比了该电路与传统电路的差别,并讨论了该采样方法的使用条件和应用参数。