首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
相似文献
 共查询到19条相似文献,搜索用时 78 毫秒
1.
红外焦平面器件温度循环可靠性研究   总被引:4,自引:3,他引:4  
红外焦平面器件的可靠性是目前制约焦平面工程化应用的主要因素,而器件在温度循环条件下导致的衬底断裂、In柱脱开等问题又是影响器件可靠性的主要因素.温度循环下的可靠性问题是由器件组成材料的热膨胀系数不同而产生的热应力造成的,为保证器件在温度循环或温度冲击条件下的可靠性,就必须使器件衬底内部和互联In柱所承受的应力在其断裂强度之内,对器件结构进行优化设计是适用于中等规模器件提高温度循环可靠性的主要方法,本文针对这一问题提出了结构设计优化的主要思路,结合某红外焦平面器件,采用有限元软件仿真方法进行了结构优化设计,并通过实验证明了结构设计的正确性和可行性.  相似文献   

2.
3.
温度对焊点可靠性的影响   总被引:1,自引:0,他引:1  
本文叙述了焊点失效的机理和热循环对焊点可靠性的影响。  相似文献   

4.
基于Cu的随动强化模型,用二维有限元分析方法,模拟分析了不同互连宽度对Cu互连热应力分布的影响。研究发现,当互连尺寸减小到一定宽度后,静水应力先减小,后略有增加;随线宽的减小,等效塑性应变的最大值逐渐减小,塑性应变最大值的位置由Cu互连上界面处转向Cu互连上界面边角处,而发生等效塑性应变的区域先减小后增加。讨论了在不同Cu互连结构条件下,应力状态和塑性应变对Cu互连可靠性的影响。  相似文献   

5.
对GaN基白光二极管(LED)分别施加-1 600、-1 200、-800、-400、400、800、1 200和1 600V静电打击,每次静电打击后,测量LED电学参数和光学参数的变化。从理论上分析了静电对LED可靠性的影响。实验表明:LED样品的I-V特性曲线及光学参数,受反向静电打击的影响比较大,而受正向静电打击的影响不明显。LED样品在被反向静电打击后,芯片内部产生二次缺陷和熔融通道,导致其I-V曲线变形,光通量减小,老化性能衰减速率加快。在1 600V范围内,LED可靠性受正向静电影响不明显。  相似文献   

6.
通过对LED灯具的相关研究,总结分析了影响LED灯具寿命的主要因素,包括LED光源和驱动电源等,并对提高LED灯具寿命的几种有效途径进行了说明,对提高LED灯具可靠性有很大的意义。  相似文献   

7.
硅胶粘弹性对大功率LED可靠性的影响   总被引:1,自引:0,他引:1  
基于动态单悬臂梁DMA实验测定了多频条件下LED封装用硅胶的粘弹性特性参数,用数据处理软件拟合得到松弛时间、剪切松弛系数、体积松弛系数等参数.通过有限元软件ANSYS分别模拟了硅胶线弹性和粘弹性两种不同性质下,LED器件在-55~+125℃热循环条件下的总体变形、等效应力及应力最大点的剪切应力变化趋势.结果表明,基于硅胶的粘弹性特性的LED的可靠性模拟结果更接近实际情况.  相似文献   

8.
针对直接倒焊(Ⅰ型)、间接倒焊(Ⅱ型)两种红外探测器模块,两者中的探测器芯片、硅读出电路和引线基板的尺寸完全相同,只在倒焊封装结构上有所差异,用有限元方法分析比较了这两种封装形式的基本模块于液氮温度时的热应力和形变大小情况,分析结果与实验现象符合较好,模块低温形变值的测量验证了有限元分析结果的合理性.  相似文献   

9.
郑智斌 《半导体技术》2012,37(6):479-481,488
根据实际工作中分析发光二极管(LED)产品失效问题所获得的经验,探讨环氧树脂灌封工艺对LED可靠性的影响。采用理论结合试验验证的方法,从环氧树脂材料性能、固化工艺条件和改善树脂材料性能等方面,总结出环氧树脂灌封工艺影响LED可靠性的具体因素。环氧树脂材料的性能参数如玻璃化转变温度、热膨胀系数和弹性模量等会影响LED耐焊接热和光衰的能力;降低固化工艺条件会减少LED内应力,防止芯片隐裂;在环氧树脂中添加偶联剂可以提高LED产品气密性,防止水汽渗透,提高LED可靠性。最后建议应当根据不同LED的可靠性要求,选择合适的环氧树脂和固化工艺条件。  相似文献   

10.
环境应力试验是产品质量鉴定及保证不可缺少的条件之一。论述了温度、湿度及冷热冲击等不同的环境应力对产品的影响。试验证明,通过必要的环境应力试验,可以减少产品的循环,去除缺陷产品,降低产品故障率。  相似文献   

11.
LED以其优良的性能结合智能控制系统,被越来越多地应用于室内外照明场合,但同时也对其色温、显色指数等色度指标提出了新的要求.为了应对这种挑战,设计了一种新型的色温可调LED,利用大功率LED芯片结合金属基板封装出了色温可调的暖白光高显色指数LED样品,对其发光光谱、色温和显色指数随电流的变化进行了测试,发现LED的光谱...  相似文献   

12.
廖光朝  戴世望  陈迎 《电子测试》2007,(8):37-38,44
文章通过LED的发光机理和参数分析,说明LED在工程应用中的可靠性试验方法和试验条件,对其试验原理和可能的失效机理进行说明,最后通过在实际工程应用中的效果来证实可靠性试验对提高产品使用可靠性的有效性.  相似文献   

13.
LED生产分析与探究   总被引:3,自引:0,他引:3  
从LED生产流程出发,论述LED生产过程的四个关键工序,分析目前我国LED生产企业的生产情况,并针对这种状况,提出了开发全自动注腾机和改造现有生产线的具体方案。  相似文献   

14.
王劲  梁秉文 《半导体光电》2007,28(2):228-230
提出了一种以有限元法估算发光二极管(LED)光源模块结点温度的方法,提出了较详细的计算步骤,最后以6只1 W大功率LED组成的光源模块为例,演示如何以实测为基础,实测与软件试算相结合来估算LED光源模块的芯片结点温度.结果证明该方法具有较好的预测性,可以用来研究LED光源模块的温度分布,从而为研究LED封装材料匹配性、系统可靠性提供一定的参照.  相似文献   

15.
刘静波 《现代显示》2005,(12):19-23
本文主要描述如何进行LED显示屏可靠性验收试验。  相似文献   

16.
本文简要讨论LED显示产品的可靠性的含义,提出应以显示屏系统的MTBF和LED光衰两个特征量来描述LED显示和应用产品的可靠性和寿命。厂家应提供各种规格的箱体的MTBF.这是计算系统MTBF的基础。  相似文献   

17.
GaN基发光二极管的可靠性研究进展   总被引:4,自引:0,他引:4  
高效高亮度GaN基发光二极管(LED)在图像显示、信号指示、照明以及基础研究等方面有着极为广阔的应用前景,器件的可靠性是实现其广泛应用的保证.本文从封装材料退化、金属的电迁移、p型欧姆接触退化、深能级与非辐射复合中心增加等方面介绍了GaN基LED的退化机理以及提高器件可靠性的措施,并对GaN基LED的应用前景进行了展望.  相似文献   

18.
功率型LED封装基板材料的温度场和热应力分析   总被引:2,自引:1,他引:1  
刘一兵 《半导体光电》2011,32(5):646-649
建立了功率型LED的有限元热学模型,选择Al2O3,AlN,Al-SiC,铜钼合金四种基板材料,采用ANSYS热分析软件仿真不同基板材料的温度场和热应力分布,得出如下结论:AlN基板的结温和热阻最低,结温达到120℃时所加的热载荷值最大;最大热应力主要集中在芯片与基板的界面附近,AlN基板的最大热应力最低。因此,AlN材料是较理想的基板材料。  相似文献   

19.
朱斌  姜玲玲 《现代显示》2012,(9):299-303
本文分析了LED显示屏的核心器件——发光二极管的各种性能参数对LED显示屏显示效果的影响,针对分析的几点问题结合实际,提出了个人的看法。  相似文献   

设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号