安捷伦发布在线测试的边界扫描VTEP混合

安捷伦科技日前为在线测试(ICT)用户推出测试有限接入环境印制电路板组件(PCBA)的创新方法,它毫不影响测试覆盖范围和产品进入市场的时间——并能同时降低夹具成本和减少测试资源。     

组装测试技术应用前景分析

目前在电子组装测试领域中使用的测试技术种类繁多,常用的有手工视觉检查(Manual Visual Inspection,简称MVI)、在线测试(In-Circuit Tester,简称ICT)、自动光学测试(AutomaticOptical Inspection,简称AOI)、自动X射线测试(Automatic X-ray Inspec-tion,简称AXI)、功能测试(Functional     

用于PCIe协议测试的在线误码注入工具

在线误码注入工具(Jammer)用于进行PCI EXPRESS(PCIe)协议测试。Jammer采用了突破性的PCIe测试理念,是一种创新的测试工具,可帮助开发人员缩短测试周期和加快器件的上市速度。     

电子组装测试技术的应用和发展展望

目前在电子组装测试领域中使用的测试技术种类繁多,常用的有手工视觉检查(Manual visual inspection,简称MVI)、在线测试(In-circuit tester,简称ICT)、自动光学测试(Automatic Optical lnspection,简称AOI)、自动X射线测试(Automatic X-ray Inspection,简称AXI)、功能测试(Functional Tester,简称FT)等。由于电子组装行业的复杂性,很难界定那些手段是组装业所必须的而那些是不需要的,每种测试技术的应用领域和测试手段都不尽相同。     

PON系统测试用光功率计

文章介绍了一种无源光网络(PON)系统中测试用的光功率计,该功率计通过特殊设计的光路和电路结构来实现PON系统中对信号光功率测试的特殊要求,即要满足线路上3种光信号波长的同时测试、在线测试和1 310 nm信号的突发测试功能,从而大大方便PON系统的安装、管理和维护.     

PON系统测试用光功率计

介绍了一种无源光网络(PON)系统中测试用的光功率计,该功率计通过特殊设计的光路和电路结构来实现PON系统中对信号光功率测试的特殊要求,即要满足线路上3种光信号波长的同时测试、在线测试和1310nm信号的突发测试功能,从而大大方便PON系统的安装、管理和维护。     

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安捷伦发布最小干扰在线测试的边界扫描——VTEP混合安捷伦科技日前为在线测试(ICT)用户推出测试有限接入环境印制电路板组件(PCBA)的创新方法,它毫不影响测试覆盖范围和产品进入市场的时间——并能同时降低夹具成本和减少测试资源。     

安捷伦发布最小干扰在线测试的边界扫描-VTEP混合

安捷伦科技日前为在线测试(ICT)用户推出测试有限接入环境印制电路板组件(PCBA)的创新方法,它毫不影响测试覆盖范围和产品进入市场的时间,并能同时降低夹具成本和减少测试资源。这项技术,是今天电子制     

印制板组件的在线测试技术

简单介绍了在线测试这一概念,阐述了印制电路板在线测试的流程和原理,分析了几种在线测试中的工艺性测试。     

测试技术综述

要在当今竞争激烈的市场中立足,电子产品生产厂家就必须确保产品质量。为了保证产品质量,在生产过程中就需要采用各类测试技术进行检测,及时发现缺陷和故障并修复。根据测试方式的不同,SMT测试技术可分为非接触式测试和接触式测试。非接触式测试已从人工目测发展到自动光学检查(AOI)、自动射线检测(AXI),而接触式测试则可分为在线测试和功能测试两大类。本文将对各类测试技术及未来发展趋势作一初步探讨。     

最新的基于VXI的生产测试系统——Spectrum系列

美国Teradyne(泰瑞达)公司,1996年11月12日在德国慕尼黑推出了第一台VXI结构的生产测试平台,以满足对最新的表面贴装技术(SMT)电路板测试的要求。在电子产品展示会上的演示,首次证实了新一代的Spectrum8800系列产品是第一个建立在集成的VXI系统结构上的板测试系统。这种测试系统主要应用于在线测试和板功能测试领域。 Spectrum8800系列产品的设计主要是针对那些生产     

基于测试系统的FPGA逻辑资源的测试

FPGA在许多领域已经得到广泛应用,其测试问题也显得越来越突出。文章针对基于SRAM结构FPGA的特点,以Xilinx公司的XC4000系列芯片为例,利用检测可编程逻辑资源的多逻辑单元(CLB)混合故障的测试方法,阐述了如何在BC3192V50测试系统上实现FPGA的在线配置以及功能和参数测试。它是一种基于测试系统的通用的FPGA配置和测试方法。     

采用NI的LabVIEW和DAQ开发低成本多功能测试系统

一种采用NI(National Instruments)的LabVIEW和DAQ板集成的多功能测试系统,其设计思想是基于解决SLIC电路(用户接口电路)测试的基础上尽可能兼容其它电路的测试,如常规音频放大器、脉冲电路、混合电路模块、阻容网络等等。我公司经过两年多的开发和不断改进,该系统已成为集在线测试与功能测试为一体、功能强大的工业化生产设     

电子产业中的检测手段——印刷电路板在线测试

介绍了印刷电路板在线测试的原理,分析了几种近年来发展韧带的在线测试中的工艺性测试并对几大公司的工艺性测试方法作了简要说明。     

在线RF测试的测量相位误差

最近,有文章描述了在制造RF产品时使用在线(in-process)功能测试的经济性,并概括地给出了如何构造一个在线测试系统。此类系统可测量的参数之一即为传输“相位误差”。在GSM产品,如手机,对相位误差有严格限制。最终功能测试中,相位误差是典型测试参数,但在线功能测试可使其快速进行。相位误差测试的必要性     

基于ATE的FPGA测试方法

本文以Xilinx公司基于SRAM的FPGA XC4010为研究对象,将FPGA配置成两种电路来完成对可编程逻辑模块(CLB)的测试,并阐述了如何在Teradyne商用ATE(Automatic Test Equipment)J750上实现FPGA的在线配置及测试,为FPGA面向应用的测试提供一种有效的方法.     

在线测试及其替代技术

在线测试(ICT)已成为现代电子制造过程的一个重要组成部分,本文着重介绍它的功能以及它的替代技术。 全面测试的必要性 对电子产品进行测试有多种原因,最重要的是要求在生产过程中保证质量。一切过程都会出现某种程度的误差,它们会导致生产合格率的下降。有缺陷的产品到达生产的最后阶段,或者更坏的情况是送至用户手中,势必增加维修的时间和费用,并需要扩大库存。这些结果     

数字IC的在线测试技术及其软硬件设计

本文介绍了数字电路的在线测试技术。研究了基于VXIbus仪器模块为测试设备的在线测试硬件结构,用HP VEE编程设计了软件系统,实现了数字电路的自动在线测试。     

基于PXI总线的在线测试技术

在线测试是一种不断开电路,不拆下元器件管脚的新测试技术,他被广泛应用于印制板和电子电路测试。以往用单片机实现的在线测试技术由于运算速度低,无法实现更好的抗干扰算法,因而运算速度慢、误差大。基于VXI总线的在线测试仪由于性价比低,不实用。为适应世界测试仪表的发展趋势,本文采用PXI总线技术实现对电阻、电容等器件的在线测试,用隔离法测量电阻;用高频分析法测量电容,重点介绍了隔离点的选取原则,并利用PXI数据处理速度高的特点,采用滤波算法抑制干扰,提高了速度、减小了误差、拓宽了测试范围。     

在线测试技术综述

电子产品的生产制造要经过多道工序,元器件进厂检验、光板测试、插装、贴片、波峰焊(回流焊)、板测试及系统测试。而随着产量的加大,进入市场要求时间短,板测试越加显得重要,测试技术也越来越发展。板测试主要分为:板的功能测试和在线测试。板的功能测试即:在板的输入端施加输入信号,而在板的输出端接检测仪表,检测板的功能是否正确。功能测试可以使故障覆盖率相当高,接近100％,但查出故障以后定位比较困难,要借助辅助工具,定位故障时间也相应加