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PT/P(VDF-TrFE)/多孔氧化硅衬底热释电传感器研制 总被引:3,自引:0,他引:3
用电化学方法制备多孔化率约69%的多孔硅,在湿氧中氧化成多孔氧化硅,作热释电传感器的衬底。将用溶胶凝胶法制备的钛酸铅(PT)纳米粉粒掺入聚偏氟乙烯/三氟乙烯共聚物中形成PT/P(VDFTrFE)热释电复合敏感膜。PT粉粒的掺入体积比为012时,与成膜条件相同的P(VDFTrFE)膜相比,热释电优值提高20%,探测优值提高35%。多孔氧化硅结构降低了衬底的热导率和元件热容,使多孔硅衬底传感器的电流灵敏度比结构相同的体硅衬底传感器样品高约2倍。 相似文献
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用电化学腐蚀法制备了具有不同导热系数的多孔硅样品(孔隙率为80%±2、厚度为110μm时,导热系数可降低至0.20 W/m·K),并在其表面沉积了氧化钒热敏薄膜,研究了多孔硅样品的热绝缘性能对氧化钒热敏薄膜阻温特性的影响.结果表明:多孔硅良好的热绝缘性使在其表面制备的氧化钒热敏薄膜电阻的灵敏度远高于在硅基底上制备的热敏电阻的(多孔硅和硅片上的氧化钒薄膜电阻随功率变化斜率分别为120 kΩ/μW和2.1 kΩ/μW),且热敏电阻的灵敏度随着多孔硅孔隙率和厚度的增大而升高. 相似文献
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光电子与信息产业的迅猛发展加速了化学机械抛光技术(CMP)的更新。CMP作为目前最好的实现全局平面化的工艺技术(整体平面化的表面精加工技术),借助超微粒子的切削作用以及材料的化学腐蚀作用可以将硅基材料抛光成光洁平坦表面,已广泛应用在硅基材料、光学元件和电子集成电路等元件的表面平坦化处理。随着抛光精度的逐渐提高,CMP已成为首选抛光技术。为了获得超高精度表面,对抛光材料的调配与生产的要求也不断提高,二氧化铈(CeO2)作为高效的抛光材料,在高精度抛光中得到广泛应用。 相似文献
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《高分子材料科学与工程》2011,(4):74-74
专利名称:具有高阻隔性能的聚对苯二甲酸乙二醇酯复合材料的制备方法专利申请号:CN200610064909.9公开号:CN101037531申请日:2006.03.17公开日:2007.09.19申请人:中国石油天然气股份有限公司本发明涉及一种聚对苯二甲酸乙二醇酯(PET)的复合材料的制备方法。 相似文献
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介绍低阻硅基多孔硅作为低损耗衬底在射频集成电路(RFIC)无源器件上的应用,分别讨论了在RFIC中的传输线,移相器和电感等无源器件运用多孔硅衬底后性能和主要参数的改良变化,并从理论上分析变化的原因。多孔硅衬底大大降低了RFIC电路中传输线的损耗,使移相器的工作频率和相移量都发生变化。运用多孔硅衬底,回旋电感的最高Q增加了63%(16.8~27.4),最高响应频率增加了28%(15.2~19.4GHz)。结果表明多孔硅衬底在高频情况下完全能满足RFIC元件的要求。 相似文献
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电化学腐蚀多孔硅表面形貌的结构特性 总被引:1,自引:0,他引:1
多孔硅作为微电子机械系统中重要的热绝缘层和牺牲层材料,其表面形貌结构特性是影响多孔硅上薄膜器件性能的重要因素,为此,利用双槽电化学腐蚀方法制备了多孔硅薄膜,并通过原子力显微镜和场发射扫描电子显微镜对制备多孔硅的表面形貌和孔径大小分布进行了观察.结果发现:腐蚀初期,在硅表面会有大量的硅柱形成,硅柱的直径、高度、分布密度与电流密度成正比关系;硅柱在进一步腐蚀过程中会消失,多孔硅的表面粗糙度随着腐蚀的进行,先减小再增大,最后达到稳定值0.52nm;多孔硅孔径大小分布区间随腐蚀时间增加变窄. 相似文献
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采用脉冲电化学腐蚀法,以n型单晶硅为衬底制备多孔硅(n—PS),通过扫描电镜(SEM)、室温500—700nm范围内荧光光谱,系统研究腐蚀时间、占空比和脉冲频率对n-PS的结构形貌和可见光区室温光致发光特性(PL)的影响,结果表明,相比直流电化学腐蚀方法,脉冲腐蚀能获得孔径分布均匀且发光强度更高的多孔硅;随腐蚀时间、占空比和脉冲频率等腐蚀条件的变化,其发光峰位及发光强度均有明显改变;当等效腐蚀时间为30min、占空比为0.5、脉冲频率为10Hz时,制备的n—PS的PL强度较高,发光性能较好。 相似文献
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<正>光电子与信息产业的迅猛发展加速了化学机械抛光技术(CMP)的更新。CMP作为目前最好的实现全局平面化的工艺技术(整体平面化的表面精加工技术),借助超微粒子的切削作用以及材料的化学腐蚀作用可以将硅基材料抛光成光洁平坦表面,已广泛应用在硅基材料、光学元件和电子集成电路等元件的表面平坦化处理。随着抛光精度的逐渐提高,CMP已成为首选抛光技 相似文献
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