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相似文献
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1.
电容器陶瓷击穿问题的研究   总被引:1,自引:0,他引:1  
史伟 《山东电子》1994,(3):25-27
  相似文献   

2.
本文研究了高压陶瓷电容器的交流击穿电压与电容器介质厚度、间隙长及材料介电常数之间的关系,研究得到的结果,可望对高压陶瓷电容器的合理设计提供指导。  相似文献   

3.
对引起片式多层陶瓷电容器(MLCC)击穿失效的主要因素进行了研究。根据MLCC的实际结构特点和材料特性建立模型,利用有限元模拟方法分析了典型缺陷对MLCC样品内部电场强度分布的影响,进一步地总结、分析了MLCC样品的击穿特性,具有一定的参考价值。  相似文献   

4.
片式高压多层陶瓷电容器击穿问题的研究   总被引:1,自引:0,他引:1  
根据实验数据分析了引起片式高压多层陶瓷电容器击穿的机理,结果表明:在静电场中节瘤的凸点电场强度,是电极平面节点电场强度的3倍;端头尖端电荷密度远大于周围电荷密度;空洞和分层中的空气在高压下电离,造成的介质变薄,是MLCC被击穿的重要原因。据此提出改进措施。通过提高膜和印叠质量控制电极厚度、排粘时间和升温速率、调整端浆比例等措施,控制相关因素,使高压产品的耐压性能提高1.5倍左右。  相似文献   

5.
陶瓷电容器     
《中国电子元件》1994,(2):25-27
  相似文献   

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《今日电子》2012,(9):66-67
C3216/C3225系列陶瓷电容通过优化内部电极结构,取得优异的AC耐压特性,从而在原有的直流耐压基础上,保证了交流耐压特性。同时,该产品在额定电压为DC 630V的情况下拥有2种形状(即3216尺寸和3225尺寸),3216尺寸的容量范围为1.0~15.0nF,  相似文献   

10.
C3216/C3225系列陶瓷电容通过优化内部电极结构,取得优异的AC耐压特性,从而在原有的直流耐压基础上,保证了交流耐压特性。同时,该产品在额定电压为DC 630V的情况下拥有2种形状(即3216尺寸和3225尺寸),3216尺寸的容量范围为1.0~15.0nF,  相似文献   

11.
多层陶瓷电容器分层问题研究   总被引:1,自引:0,他引:1  
  相似文献   

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分层是造成多层陶瓷电容器失效的主要问题,它可以分成二类:生坯和熟坯中的分层。本文对引起分层的因素作了详线的分析,并介绍了解决这个问题中取得的经验。  相似文献   

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本文介绍两种最新、最有发展前途的多层陶瓷电容器(MLCC)新工艺。  相似文献   

16.
为研究压电效应对多层陶瓷电容器放电性能的影响,搭建了放电周期可调的电路平台和基于光学多普勒效应的高精度振动测量平台。研究了陶瓷介质压电特性,电容在不同放电周期、不同加载电压下的振动状态和放电特性,以及失效放电周期和厚度的关系。结果表明,陶瓷介质具有压电效应,放电时,介质按交流电场频率规律振动,当振动频率与电容固有谐振频率一致时,激发机械共振,且振动幅度随电压增大而增大,当振动产生的应变超过介质承受极限时,介质开裂,导致击穿失效。失效放电周期随电容厚度增大而增大,呈线性关系。  相似文献   

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中高压陶瓷电容器发展概况   总被引:3,自引:0,他引:3  
本文简要介绍美、日专利文献报道的中高压陶瓷电容器用介质材料的组成、特性以及电容器制造工艺。  相似文献   

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<正> 实际的陶瓷电容器可用电阻值R、电容量C和电感量L的串联电路表示,该电路的阻抗Z为:  相似文献   

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